产品耗材展示-深圳市矢量科学仪器有限公司

全部配件耗材新品推荐促销产品

热翘曲系统
型号： customized 参考价：￥咨询

1. 大样品尺寸 : 400 mm x 400 mm2. 小样品尺寸 : 0.5 mm x 0.5 mm3. 在 2 内获得 140 万个数据点4. warpage 分辨率 <1 μm5...

所在地：美洲发布时间：2023/5/31
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扫描声学显微镜
型号： customized 参考价：￥咨询

为了识别沿封装微电子应用中小和细微的缺陷，echo vs包括标准功能，如用于佳声耦合的热水、用于有效捕获有用数据的灵活tami、用于提高信噪比的波形平均、iceberg用于提高图像质量，m..

所在地：美洲发布时间：2023/5/31
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研磨抛光机
型号： customized 参考价：￥咨询

1.机器电源：100~240vac, 50/60hz, 单相2.电机功率：1hp [750w] 3.盘直径：8in [203mm], 10in [254mm] 4.磨盘转速：10~500..

所在地：欧洲发布时间：2023/5/31
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高速精密切割机
型号： customized 参考价：￥咨询

1.自动、手动或智能切割控制线性进刀2.2.68hp [2kw]，100~240vac，50~60hz，1相 3.刀片运动轴: 水平、线性、垂直 (x,y,z) 4.刀片位置设定5.水平：..

所在地：美洲发布时间：2023/5/31
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真空手套箱
型号： customized 参考价：￥咨询

1.水含量： <1ppm2.氧含量： <1ppm3.材料：304不锈钢，厚度3mm4.外表面：304不锈钢5.功能：气体密封，除水、除氧6.工作气体：氮气、氩气、氦气

所在地：欧洲发布时间：2023/5/31
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接触角测试仪
型号： customized 参考价：￥咨询

1.光学成像系统：低照度0.001lux、水平600线工业黑白相机，放大倍率0.7~4.5x2.进样系统：低进样量可控制为70pl，可自动进液3.样品台移动控制：x-y 100*100mm..

所在地：欧洲发布时间：2023/5/31
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钛宝石飞激光放大器
型号： customized 参考价：￥咨询

astrella 提供更好的数据并降低整体数据成本。astrella 具备高脉冲能量（高达 >9 mj）、短脉冲宽度（< 35 fs 或 < 100 fs）和出色的光束质量（m2：< 1...

所在地：美洲发布时间：2023/5/31
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傅里叶红外光谱仪
型号： customized 参考价：￥咨询

应用：用于半导体材料内部含量检测,同质外延厚度测量和其他应用，用于先进的半导体工厂，在硅生长和器件制造域进行材料表征

所在地：美洲发布时间：2023/5/31
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四探针电阻率测试仪
型号： customized 参考价：￥咨询

应用：半导体材料、太阳能电池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)，新材料、功能材料(碳纳米管、dlc、石墨烯、ag纳米线等)、导电薄膜(金属、离子等)，扩散层，硅相关外延材料，离子注入样品

所在地：日本发布时间：2023/5/31
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深能瞬态谱仪(DLTS)
型号： customized 参考价：￥咨询

1.脉冲发生器电压范围 ±100v,解析度0.3mv2.脉冲宽度 1us-1000s3.电容测量的高频信号 1m hz4.电容补偿范围 1pf- 3300pf

所在地：欧洲发布时间：2023/5/31
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冷热冲击试验箱
型号： customized 参考价：￥咨询

1.温度范围：周围环境温度+50 +200℃ -70~0℃ 3温区2.高温曝露到+200℃：15分钟以内3.常温曝露：5分钟4.低温曝露：-65℃15分钟5.温度恢复时间：10分钟以..

所在地：日本发布时间：2023/5/30
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高低温(湿热) 试验箱
型号： GP系列参考价：￥咨询

1.新型冷冻机的使用，实现了大范围、高精度的温湿度控制2.40 模式可编程控制器、具有多种语言选择、试验数据u 盘存储3.故障追溯功能、试验..

所在地：日本发布时间：2023/5/30
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立式高温试验箱
型号： GPV系列参考价：￥咨询

满足各种产品、零部件及材料在高温恒温环境下贮存、运输、使用时间适应性试验要求。采用定值和程序两种控制。定值控制可进行自动开始结束设定，适合于生产线热处理干燥处理。程序控制可进行10个模式，..

所在地：日本发布时间：2023/5/30
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工业显微镜
型号： customized 参考价：￥咨询

支持通过光学显微镜或图像测量仪（如nikon nexiv），对直径为6英寸（150mm）和8英寸（200mm）的半导体晶圆的创新设计和材料进行全方位检测

所在地：日本发布时间：2023/5/30
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超景深显微镜
型号： customized 参考价：￥咨询

本套系统主要用于材料表面形貌的观察；平面或三维测量。可采用3d观测模式，对被测物形状，粗糙度，表面积等进行测量，可以做高度，宽度，横截面，角度，r值，表面积，体积，线粗糙度，面粗糙度等的测..

所在地：日本发布时间：2023/5/30
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高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪
型号： customized 参考价：￥咨询

系统功能：快速获得详细的图像和分析，非常适合于微观和宏观测量，提供先进的二维和三维共聚焦成像能力。labram odyssey™具有高性能和直观的简易性，广泛用于标准拉曼分析、..

所在地：日本发布时间：2023/5/30
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智能型多功能椭偏仪
型号： customized 参考价：￥咨询

smart se 是一款通用型薄膜测量工具。测试速度快，准确。它可以表征几埃到20μm薄膜厚度、光学常数（n, k）以及薄膜结构特性（如粗糙度、光学梯度及各向异性等）

所在地：日本发布时间：2023/5/30
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霍尔效应测试仪
型号： customized 参考价：￥咨询

系统功能：用于测量半导体材料的电阻率/电导率、流动性、散装/片状载体浓度、掺杂类型、霍尔系数、磁阻、垂直/水平阻力比的半导体高性能霍尔系统。模块化设计理念，允许轻松升，该系统适用于各种材料..

所在地：美洲发布时间：2023/5/30
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探针台
型号： customized 参考价：￥咨询

探针台主要应用于晶圆、芯片、器件、封装等半导体制程测试环节

所在地：港澳台发布时间：2023/5/30
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X-Ray
型号： customized 参考价：￥咨询

x-ray是利用阴射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以x-ray形式放出。而对于样品无法以外观方式观测的位置，利用x-ray穿透不同密度物质后 ..

所在地：欧洲发布时间：2023/5/30
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