分析测试设备(第1页)_深圳市矢量科学仪器有限公司

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分类分析测试设备

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分析测试设备

扫描电镜SEM
型号：customized 参考价：￥咨询

fe-sem获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等域

所在地：日本
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透射电镜TEM
型号：customized 参考价：￥咨询

配备了高灵敏度scmos相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能，是一款新型的高通量、高分辨率的120kv透射电子显微镜

所在地：日本
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聚焦离子束系统FIB
型号：customized 参考价：￥咨询

fib是将离子源产生的离子束经过离子枪加速，聚焦后作用于样品表面，应用于：产生二次电子信号取得电子像，此功能与sem相似，用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米表面形貌加工，通常..

所在地：欧洲
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光学轮廓仪
型号：customized 参考价：￥咨询

1.测量模式：psl, usl, vsl, 选配的 film2.大扫描量程：≤10 mm

所在地：美洲
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探针式轮廓仪/台阶仪
型号：customized 参考价：￥咨询

1.测量功能：二维表面轮廓测量 /可选三维测量2.样品视景：可选放大倍率，1 to 4mm fov3.探针压力：使用lis 3 传感器 1至15mg4.低作用力：使用n-lite+低作用力..

所在地：美洲
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X射线衍射仪XRD
型号：customized 参考价：￥咨询

智能x射线衍射仪smartlab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样..

所在地：日本
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CT系统
型号：customized 参考价：￥咨询

1.comet yxlon ff35 ct x射线系统是一种创新的多功能高分辨率 ct 系统，用于研发和质量保证域。ff35 ct 符合 semi® 的严苛标准（包括 semi&..

所在地：欧洲
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X-Ray
型号：customized 参考价：￥咨询

x-ray是利用阴射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以x-ray形式放出。而对于样品无法以外观方式观测的位置，利用x-ray穿透不同密度物质后 ..

所在地：欧洲
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探针台
型号：customized 参考价：￥咨询

探针台主要应用于晶圆、芯片、器件、封装等半导体制程测试环节

所在地：港澳台
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霍尔效应测试仪
型号：customized 参考价：￥咨询

系统功能：用于测量半导体材料的电阻率/电导率、流动性、散装/片状载体浓度、掺杂类型、霍尔系数、磁阻、垂直/水平阻力比的半导体高性能霍尔系统。模块化设计理念，允许轻松升，该系统适用于各种材料..

所在地：美洲
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智能型多功能椭偏仪
型号：customized 参考价：￥咨询

smart se 是一款通用型薄膜测量工具。测试速度快，准确。它可以表征几埃到20μm薄膜厚度、光学常数（n, k）以及薄膜结构特性（如粗糙度、光学梯度及各向异性等）

所在地：日本
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高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪
型号：customized 参考价：￥咨询

系统功能：快速获得详细的图像和分析，非常适合于微观和宏观测量，提供先进的二维和三维共聚焦成像能力。labram odyssey™具有高性能和直观的简易性，广泛用于标准拉曼分析、..

所在地：日本
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超景深显微镜
型号：customized 参考价：￥咨询

本套系统主要用于材料表面形貌的观察；平面或三维测量。可采用3d观测模式，对被测物形状，粗糙度，表面积等进行测量，可以做高度，宽度，横截面，角度，r值，表面积，体积，线粗糙度，面粗糙度等的测..

所在地：日本
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工业显微镜
型号：customized 参考价：￥咨询

支持通过光学显微镜或图像测量仪（如nikon nexiv），对直径为6英寸（150mm）和8英寸（200mm）的半导体晶圆的创新设计和材料进行全方位检测

所在地：日本
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深能瞬态谱仪(DLTS)
型号：customized 参考价：￥咨询

1.脉冲发生器电压范围 ±100v,解析度0.3mv2.脉冲宽度 1us-1000s3.电容测量的高频信号 1m hz4.电容补偿范围 1pf- 3300pf

所在地：欧洲
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四探针电阻率测试仪
型号：customized 参考价：￥咨询

应用：半导体材料、太阳能电池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)，新材料、功能材料(碳纳米管、dlc、石墨烯、ag纳米线等)、导电薄膜(金属、离子等)，扩散层，硅相关外延材料，离子注入样品

所在地：日本
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傅里叶红外光谱仪
型号：customized 参考价：￥咨询

应用：用于半导体材料内部含量检测,同质外延厚度测量和其他应用，用于先进的半导体工厂，在硅生长和器件制造域进行材料表征

所在地：美洲
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钛宝石飞激光放大器
型号：customized 参考价：￥咨询

astrella 提供更好的数据并降低整体数据成本。astrella 具备高脉冲能量（高达 >9 mj）、短脉冲宽度（< 35 fs 或 < 100 fs）和出色的光束质量（m2：< 1...

所在地：美洲
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接触角测试仪
型号：customized 参考价：￥咨询

1.光学成像系统：低照度0.001lux、水平600线工业黑白相机，放大倍率0.7~4.5x2.进样系统：低进样量可控制为70pl，可自动进液3.样品台移动控制：x-y 100*100mm..

所在地：欧洲
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真空手套箱
型号：customized 参考价：￥咨询

1.水含量： <1ppm2.氧含量： <1ppm3.材料：304不锈钢，厚度3mm4.外表面：304不锈钢5.功能：气体密封，除水、除氧6.工作气体：氮气、氩气、氦气

所在地：欧洲
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