半导体分析测试设备(第2页)_深圳市矢量科学仪器有限公司

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分类半导体分析测试设备

产品分类

分析测试设备

高速精密切割机
型号：customized 参考价：￥咨询

1.自动、手动或智能切割控制线性进刀2.2.68hp [2kw]，100~240vac，50~60hz，1相 3.刀片运动轴: 水平、线性、垂直 (x,y,z) 4.刀片位置设定5.水平：..

所在地：美洲
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研磨抛光机
型号：customized 参考价：￥咨询

1.机器电源：100~240vac, 50/60hz, 单相2.电机功率：1hp [750w] 3.盘直径：8in [203mm], 10in [254mm] 4.磨盘转速：10~500..

所在地：欧洲
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扫描声学显微镜
型号：customized 参考价：￥咨询

为了识别沿封装微电子应用中小和细微的缺陷，echo vs包括标准功能，如用于佳声耦合的热水、用于有效捕获有用数据的灵活tami、用于提高信噪比的波形平均、iceberg用于提高图像质量，m..

所在地：美洲
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热翘曲系统
型号：customized 参考价：￥咨询

1. 大样品尺寸 : 400 mm x 400 mm2. 小样品尺寸 : 0.5 mm x 0.5 mm3. 在 2 内获得 140 万个数据点4. warpage 分辨率 <1 μm5...

所在地：美洲
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电子万能试验机
型号：customized 参考价：￥咨询

mts criterion40系列测试系统采用高速率、低振动电机驱动装置和集成、数字闭环控制装置，在1n到100kn范围内实现力控、位移控或应变控的试验。

所在地：美洲
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TEM Mill 精密离子减薄仪
型号：customized 参考价：￥咨询

1.两支独立可调电磁聚焦离子枪2.同时具备高能量(快速抛光)和低能量(精细修复)3.超宽加速电压范围：100ev 到 10kv，不同加速电压下，离子束束斑均保持细优束斑状态4.每支离子枪均..

所在地：美洲
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离子研磨系统
型号：customized 参考价：￥咨询

为了对样品内部结构进行观察、分析，必须让样品内部结构显露出来，日立离子研磨装置使用大面积低能量的ar离子束，加工出无应力损伤的截面，为sem观察样品的内部多层结构、结晶状态、异物解析、层..

所在地：美洲
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扫描隧道显微镜
型号：customized 参考价：￥咨询

第三代的一个关键特征是液态氦保持时间增加 30%。这对于所有低温实验都有很大的优势，降低了运行成本，并为用户提供了更多的灵活性。新型低温器设计可实现长期光谱实验，而不会影响 lt st..

所在地：美洲
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微型轮廓仪（光学检测）
型号：ET200A型参考价：￥咨询

kosaka lab et 200a探针接触式台阶仪是株式会社小坂研究所的高精度微细形状测定机，基于windows系统，采用金刚石探针接触测量，适用于多种材料表面形貌分析，如台阶、粗糙度等..

所在地：日本
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激光椭圆仪
型号：SENTECH SE 401adv 参考价：￥咨询

se 401adv 通过映射高达 200 毫米的液体单元、用于原位测量的液体单元、摄像机、自动对焦、模拟软件和经过认证的标准晶圆，可根据您的需求进行调整。

所在地：欧洲
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光谱椭偏仪
型号：SENTECH SER 800 PV 参考价：￥咨询

sentech ser 800 pv光谱椭偏仪符合perc、topcon、hjt和钙钛矿技术等新型太阳能电池技术的研发要求。它操作简单，具有高测量灵敏度、去偏振校正和特殊的聚光光学元件，使..

所在地：欧洲
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激光椭圆仪
型号：SE 400adv PV 参考价：￥咨询

多角度激光椭偏仪 se 400adv pv 在 hene 激光波长为 632.8 nm 时，在纹理单晶和多晶硅片上提供抗反射单膜的膜厚度和折射率。可更换晶圆支架允许在多晶硅片和碱性纹理单晶..

所在地：欧洲
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自动光谱反射仪
型号：SENTECH RM 1000 QC 参考价：￥咨询

sentech rm 1000 qc反射仪设计用于快速简单地测量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工业生产过程中的质量控制。该工具涵盖 20 nm 至 50 μm 的膜厚范围，..

所在地：欧洲
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全自动薄膜质量控制
型号：SENTECH SENDURO®MEMS 参考价：￥咨询

sentech senduro®mems 提供配置灵活性，以满足生产控制和质量控制的要求。该工具可以配置反射法和椭圆偏振法中的μ点测量，以及提供准确测量位置的模式识别。所有测量都..

所在地：欧洲
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薄膜计量光谱仪软件
型号：SpectraRay/4 参考价：￥咨询

spectraray/4 是 sentech 有的光谱椭圆偏振仪软件，包括椭圆、反射和透射数据的数据采集、建模、拟合和扩展报告。它支持可变角度、多实验和组合光度测量。包括一个基于 sen..

所在地：欧洲
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薄膜计量红外光谱椭圆仪
型号：SENTECH SENDIRA 参考价：￥咨询

sentech sendira 为红外（ftir）而设计。这款紧凑的台式仪器包括吹扫椭偏仪光学元件、计算机控制的测角仪、水平样品平台、自动准直望远镜、商用 ftir 和 dtgs 或 ..

所在地：欧洲
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薄膜计量椭圆光谱仪
型号：SENTECH SENpro 参考价：￥咨询

sentech senpro 椭圆偏振光谱仪具有操作简单、测量速度快、不同入射角椭偏振测量的组合数据分析等特点。它的测量光谱范围为 370 nm 至 1,050 nm。该工具的光谱范围与先..

所在地：欧洲
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薄膜计量椭圆光谱仪
型号：SENresearch 4.0 参考价：￥咨询

sentech senresearch 4.0 使用快速 ftir 椭圆偏振法分别测量高达 2,500 nm 或 3,500 nm 的近红外光谱。它提供宽的光谱范围、佳的信噪比和高的可选光..

所在地：欧洲
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薄膜计量激光椭圆仪
型号：SENTECH SE 500adv 参考价：￥咨询

sentech se 500adv结合了椭圆偏振法和反射法，消除了测量透明薄膜层厚的模糊性。它将可测量的厚度扩展到 25 μm。因此，se 500adv 扩展了标准激光椭偏仪 se 400..

所在地：欧洲
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薄膜计量光谱反射仪软件
型号：FTPadv Expert 参考价：￥咨询

ftpadv expert薄膜测量软件具有ftpadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。

所在地：欧洲
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