探针台MPS150-SiPh

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型号：MPS150-SiPh
品牌： $brandModel.Title
所属地区：美洲
原产地：国外-国外
产品摘要：入门手动探针台，用于表面耦合和水平边缘耦合FormFactor推出了一种具有成本效益的硅光子学测量解决方案，以支持新兴应用的基础研究工作。该系统的设计是FormFactor多年开发自动光子测量系统的经验 - 现在根据大学和其他入门用户的需求量身定制。MPS150-SiPh 可确保光纤可以精确对准，从而在不发生物理接触的情况下将光耦合进出设备。

产品完善度：

更新时间：2026/9/8 1:56:36关注度：643

关键词标签：探针台,光电测试,Formfactor,MPS150-SiPh

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产品概述:
入门手动探针台，用于表面耦合和水平边缘耦合
FormFactor推出了一种具有成本效益的硅光子学测量解决方案，以支持新兴应用的基础研究工作。该系统的设计是FormFactor多年开发自动光子测量系统的经验 - 现在根据大学和其他入门用户的需求量身定制。
MPS150-SiPh 可确保光纤可以精确对准，从而在不发生物理接触的情况下将光耦合进出设备。MPS150-SiPh 利用其直观的设计，是经验不足的用户发现光子学并获得高精度测试结果的解决方案。

主要特点:
1、镜面反射镜技术
•DUT 支架可实现高精度水平观察
•CalVue 和 DieVue 使用户能够调整光学探头以实现佳测量性能
•允许对单根光纤和光纤阵列进行表面耦合和水平边缘耦合倾斜底座定位器
•在 6 个自由度内手动或自动调整入射角
•利用标准光纤支架光学性能
•系统可以配备FormFactor革命性的eVue数字成像系统或高性能SlimVue显微镜
•eVue 的革命性设计在光学分辨率、数字变焦和实时运动视频之间实现平衡。该系统使导航、观察和测量设备比以往任何时候都更快、更智能
•SlimVue™ 显微镜可减轻光子学集成电路（PIC）上小焊盘探测所需的高放大光学元件的机械干扰
•该系统使用户能够比以往任何时候都更快、更智能地导航、观察和测量设备
•Spectrum 软件允许用户测量 z 位移

2、模块化解决方案
•如果用户的测量要求发生变化，可以很容易地更换探针硬件
•提供大的测量灵活性：压板扩展件可配置为执行 3 端口光子学和/或电气测量
•可以配置自动定位器以获得更快的测量结果

3、易用性
•符合人体工程学的简单设计，操作舒适轻松
•直观的操作工作流程使所有经验水平的测量都尽可能简单
•通过拉出阶段快速且符合人体工程学地更换 DUT