SAM Autotray 系列:SAM Auto Tray是门为电子器件、电路板、IGBT和其他复杂部件的生产控制而开发的产品系列。该系统符合10洁净室标准，主要应用包括验证缺陷，如：缝隙、气泡、孔洞、夹杂物、脱层区域、焊接或银烧结界面的厚度变化等，支持同时检查多个界面。

SAM Autowafer 系列:SAM 300 AutoWafer系列是门为内联生产控制而开发的产品系列，符合100/1000无尘室标准，该系统为检测晶圆界面、晶圆键合、 MEMS 产品、或者混合粘合应用而设计，可用于检测空洞、夹杂物或分层或微空隙。多传感器配置可使得晶圆检测通过率高。

SAM 大视场扫描系统:SAM大视场系列是门为分析DCB’s或电源模块而开发的产品系列，可支持检测扫描范围为300µm x 300µm到1300mm x 1300mm。多至8个传感器可实现超高检测通过率。该系统包括自动缺陷审查软件、GEM/SECS通讯，以及MES通讯。激光打标站和分类输出端口可供选择。