推送：动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪的解决方案@技术新闻 http://www.app17.com/c166351/products/d12334597.html
产品介绍

1. 作为现成的测量解决方案，PD1500A 可以对宽带隙半导体进行可靠且可重复的测量。 该平台不仅可以确保用户的安全性，还能够保护系统的测量硬件

2. 能够可靠、可重复测量宽带隙（SiC、GaN）功率半导体的动态特征

3. 测量的特征包括开启、关闭、开关切换、反向恢复、栅电荷以及其他许多特征

4. 同时满足被测器件和用户对测试环境的要求

5. 模块化平台可扩展、可升，能够对所有功率器件进行测试

6. 这种确保 DPT 结果可重复的能力依托于是德科技先进的业测量技术， 例如在高频测试（GHz ）、低泄漏（飞安）和脉冲功率（1,500 A 电流、10 μs 分辨率）等方面的创新。 这些创新使是德科技占据独特优势，可以有力地帮助您克服在动态功率半导体表征方面的挑战

7. PD1500A 采用的均是标准的测量技术，例如探头补偿、偏置调整、偏移校正和共模噪声抑制。 这些技术已在创新的测量拓扑和版图中使用。 另外，我们门为本系统开发了半自动校准例程（AutoCal），用于校正系统增益和偏置误差。 该系统还使用去嵌入技术来补偿分流器中的电感寄生效应

如有需要半导体设备和进口半导体设备的朋友欢迎电话咨询我们！

原创作者：深圳市矢量科学仪器有限公司