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FTIR德国Bruker傅氏转换红外光谱仪
产品介绍:德国bruker傅氏转换红外光谱仪ftir -利用红外线光谱经傅利叶转换进而分析杂质浓度的光谱分析仪器。
价 格:¥电议型 号:FTIR产 地:欧洲
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F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT美国Filmetrics 薄膜厚度测量系统
产品介绍:美国filmetrics 薄膜厚度测量系统f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,台式薄膜厚度测量系统
价 格:¥电议型 号:F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT产 地:美洲
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SV-1A日本A&D粒子计数器(粒度计)
产品介绍:日本a&d粒子计数器(粒度计)sv-1a,是使用点监测的低成本替代设备,计数值高达2,000,000个粒子/ft.
价 格:¥电议型 号:SV-1A产 地:日本
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3D Nanofinger德国Klocke Nanotech 3D纳米级三维测量仪
产品介绍:德国klocke nanotech纳米级三维测量仪3d nanofinger,是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸,表面轮廓、粗糙度等,并可与超精密微加工、微组装系统组合,进行在线检测、质量控制等。
价 格:¥电议型 号:3D Nanofinger产 地:欧洲
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MT Century Curve Tracer美国RTI自动特性图示仪
产品介绍:美国rti自动特性图示仪 mt century curve tracer,是一个性价比较高的曲线追踪设备。最多到96个channel,提供4种型号可供客戶选择,mt century curve tracer 与rti其他大型curve trace拥有一样的可靠性,功率和软件。像其他rti机型一样,mt century系統的设计有与950系列的测试夾具及其它专用夾具连接的接口。
价 格:¥电议型 号:MT Century Curve Tracer产 地:美洲
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HT-RTA59HD,CAS-59AQ日本Advance Riko 超高温高速退火炉
产品介绍:日本advance riko 超高温高速退火炉:。桌面式:ht-rta59hd。带水淬:cas-59aq
价 格:¥电议型 号:HT-RTA59HD,CAS-59AQ产 地:日本
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DE35-ST美国Royec半自动型芯片拾取系统
产品介绍:美国royec半自动型芯片拾取系统de35-st ,最小200微米芯片拾取,可选配背面,侧面检测,可选配芯片转向功能.
价 格:¥电议型 号:DE35-ST产 地:美洲
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Die Pick & Place Systems美国Royec芯片拾取及放置系统
产品介绍:美国royec芯片拾取及放置系统die pick & place systems,new !! ap+ 全自动芯片分选系统
价 格:¥电议型 号:Die Pick & Place Systems产 地:美洲
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Y.Cougar SMT, Y.Cheetah德国YXLON 高分辨率X射线检测设备
产品介绍:德国 yxlon 高分辨率x射线检测设备 y.cougar smt 平板探测器(标配) y.cheetah 高速平板探测器(标配)
价 格:¥电议型 号:Y.Cougar SMT, Y.Cheetah产 地:欧洲
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HS1000美国NANOVEA三维表面形貌仪
产品介绍:美国nanovea三维表面形貌仪hs1000型,是一款高速的三维形貌仪,最高扫描速度可达1m/s,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸样品或质检现场使用。
价 格:¥电议型 号:HS1000产 地:美洲
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SCALA德国Mecwins 扫描式激光分析仪
产品介绍:德国mecwins 扫描式激光分析仪scala,它是用激光入射扫描样品表面,收集反射信号得到样品表面的三维形貌和特征。
价 格:¥电议型 号:SCALA产 地:欧洲
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KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S半导体测试探针台
产品介绍:半导体测试探针台kup007,emp100c,emp100b,emp50s
价 格:¥电议型 号:KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S产 地:其它
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H5000美国 MMR 霍尔效应测量系统
产品介绍:美国 mmr 霍尔效应测量系统 h5000,用于研究光电材料的电学特性,利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。
价 格:¥电议型 号:H5000产 地:美洲
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HMS3000,HMS5000韩国Ecopia霍尔效应测量系统
产品介绍:韩国ecopia霍尔效应测量系统hms3000,hms5000,用于研究半导体材料/光电材料的电学特性,可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。
价 格:¥电议型 号:HMS3000,HMS5000产 地:其它
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CoreAFM瑞士Nanosurf 原子力显微镜
产品介绍:瑞士nanosurf 原子力显微镜coreafm ,非常智能地联合了原子力显微镜的核心部件来实现最多功能化与用户方便使用性. 正是由于这种基础的设计, coreafm非常合理的实现了最优化的原子力显微镜的功能.
价 格:¥电议型 号:CoreAFM产 地:美洲
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4200A-SCS美国泰克TEK Keithley半导体参数分析仪
产品介绍:美国泰克tek keithley半导体参数分析仪4200a-scs ,加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (i-v)、电容-电压 (c-v) 和超快脉冲 i-v 测量。
价 格:¥电议型 号:4200A-SCS产 地:美洲
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MDPmap德国Sentech光伏测量仪
产品介绍:德国sentech光伏测量仪mdpmap,灵活的自动扫描系统,是专为半导体晶片或部分工艺过的晶片的多功能、非接触和少子寿命测量而设计的。mdpmap能够连续地改变激发脉冲宽度,从非常短的脉冲(100ns)到稳态测量(几ms),研究不同深度的缺陷动力学和少子寿命特性。直观的绘图软件适用于有效的常规测量以及复杂的研发应用。
价 格:¥电议型 号:MDPmap产 地:欧洲
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Jelight 42,342,144AX,256,288A,384,576美国Jelight紫外光加臭氧清洗机
产品介绍:美国jelight紫外光加臭氧清洗机,是去除有机污染物(organic contaminants) 最安全、最有效率的方式特別是针对”矽晶片”,”砷化鎵”,”石英”,”蓝宝石”,”玻璃”,”云母”,”陶瓷” 及”金属” 等材料。
价 格:¥电议型 号:Jelight 42,342,144AX,256,288A,384,576产 地:美洲
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Vapour Station 4英国Oxford Vacuum 电子束蒸发镀膜机
产品介绍:英国oxford vacuum 电子束蒸发镀膜机vapour station 4,是一款微纳器件样品制备系统,为有机无机多源有气相分子沉积系统,高真空条件下,通过加热材料的方法,在衬底上沉积各 种化合物、混合物单层或多层膜,具有高真空多源有机、金属电阻蒸发及手 套箱保护条件下器件后期制作,主要用于有机半导体材料的物理化学性能,研究实验、有机半导体器件的原理研究实验也可用于普通金属电蒸发镀膜究。
价 格:¥电议型 号:Vapour Station 4产 地:欧洲








