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深圳市蓝星宇电子科技有限公司 主营产品：光刻机,真空镀膜机,离子刻蚀机,,半导体辅助材料,半导体微纳检测仪器,太阳能吸收率发射击队率检测仪,,实验检测仪器设备,紫外线UV光清洗机UV灯.

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德国Zeiss扫描电镜

德国KSI超声波扫描显微镜

德国Mecwins扫描式激光分析仪

美国Nanovea三维表面形貌仪

德国Sentech薄膜测量仪/光伏测量仪

德国Klocke Nanotech 3D纳米级三维测量仪

德国YXLON 高分辨率Ｘ射线检测设备

瑞士Nanosurf 原子力显微镜

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日本AND粒子计数器

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德国Bruker光谱仪/显微镜/台阶仪

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美国MMR霍尔效应测量仪

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XRD X射线衍射仪

X 射线多晶衍射仪

日本 IAS 化学检测分析系统

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德国PVA TePla 超声波扫描显微镜

德国ThetaMetrisis膜厚测量仪

  • JSM-IT800SHL日本电子JEOL场发射扫描电镜

    jsm-it800shl 是日本电子株式会社（jeol） 2020 年新推出的场发射扫描电镜，它秉承 jeol 热场发射扫描电镜 jsm-7900f 的大束流，高稳定性的传统，同时将分辨率提高到新的限，全新设计的超混合型物镜，高分辨率的获得以及磁性样品的观察都可以同时完成，而且标配 jeol 新开发的 neo

    价 格：￥电议型 号：JSM-IT800SHL产 地：日本

  • IB-19520CCP日本JEOL 截面样品抛光仪

    日本jeol 截面样品抛光仪 ib-19520ccp，在加工过程中利用液氮冷却，能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下，也能将样品快速冷却、恢复到室温，并且可以拆卸。配有传送机构，在隔离空气的环境下能完成从加工到观察的全过程。

    价 格：￥电议型 号：IB-19520CCP产 地：日本

  • 日本JEOL 软X射线分析谱仪

    日本jeol 软x射线分析谱仪，通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度ｘ射线ccd相机，实现了高的能量分辨率。 和eds一样可以并行检测，并且能以0.3ev(费米边处al-l基准)的高能量分辨率进行分析，超过了wds的能量分辨率。

    价 格：￥电议型 号：产 地：日本

  • JXA-iHP100日本JEOL 电子探针显微分析仪

    日本jeol 电子探针显微分析仪 jxa-ihp100，可以安装通用性强、使用方便的能谱仪x射线探测器，组合使用wds和eds，能提供无缝、舒适的分析环境。

    价 格：￥电议型 号：JXA-iHP100产 地：日本

  • JIB-4000日本JEOL 聚焦离子束加工观察系统

    日本jeol 聚焦离子束加工观察系统 jib-4000，配置了高性能的离子镜筒(单束fib装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行sim观察 、研磨，沉积碳和钨等材料。还可以为tem成像制备薄膜样品，为观察样品内部制备截面样品。通过与sem像比较，sim像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异，这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。

    价 格：￥电议型 号：JIB-4000产 地：日本

  • JIB-4700F日本JEOL 双束加工观察系统

    日本jeol 双束加工观察系统 jib-4700f，该设备的sem镜筒中采用了超级混合圆锥形物镜、gb模式和in-lens检测器系统，在1kv低加速电压下,实现了1.6nm的保证分辨率,与最大能获得300na探针电流的浸没式肖特基电子枪组合，可以进行高分辨率观察和高速分析。

    价 格：￥电议型 号：JIB-4700F产 地：日本

  • JSX-1000S日本JEOL 能量色散型X射线荧光分析仪

    日本jeol 能量色散型x射线荧光分析仪 jsx-1000s，采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（fp法・检量线法）、rohs元素筛选功能等。利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更广泛的分析。

    价 格：￥电议型 号：JSX-1000S产 地：日本

  • JNM-ECZS日本JEOL 核磁共振谱仪

    日本jeol 核磁共振谱仪 jnm-eczs，不仅具有高性能，还进一步实现了谱仪的小型化。 高软件和自动化技术，使常规测试全部实现了自动化。超高灵敏度自动调谐探头包括了supercool探头（选配件）等超低温探头技术，实现了高别的灵敏度，能在各个应用域发挥大的作用。

    价 格：￥电议型 号：JNM-ECZS产 地：日本

  • JNM-ECZR日本JEOL 核磁共振谱仪

    日本jeol 核磁共振谱仪 jnm-eczr ，是高度结合了最新数字技术和高频技术研制的脉冲傅里叶变换核磁共振仪。电路的高度集成化提高了谱仪的可靠性、实现了机体的小型化，谱仪对多通道操作、高功率放大器等配件的可扩展性支持也比旧机型更强。 设备的控制系统采用了全新的高速总线，并高速、高精度地控制着各种设备。

    价 格：￥电议型 号：JNM-ECZR产 地：中国大陆

  • JES-X310，X320日本JEOL电子自旋共振谱仪

    日本jeol电子自旋共振谱仪 jes-x310，x320，jes-x3系列电子自旋共振谱仪，经过进一步改良低噪音耿氏振荡器，达到了极高的灵敏度。由于人们已经认识到样品中极少量的未成对电子会在很大程度上左右着材料的性能，因此对esr的测试灵敏度也就有了更高的要求。 jeol resonance改进了低噪声的耿氏振荡器，使灵敏度比原来提高了30%。

    价 格：￥电议型 号：JES-X310，X320产 地：日本

  • TP-99010FD日本JEOL粉末供应装置

    日本jeol粉末供应装置 tp-99010fd，用气体通过管道定量输送粉末的送粉器。该台式送粉器能稳定地供给亚微米～100μm左右的微细颗粒。

    价 格：￥电议型 号：TP-99010FD产 地：日本

  • TP日本JEOL高频感应等离子体发生器

    日本jeol高频感应等离子体发生器tp系列 ，通过高频感应加热产生大约1万度的热等离子体，经过物理/化学反应过程，能合成纳米颗粒及厚膜(镀膜)。

    价 格：￥电议型 号：TP产 地：日本

  • JEM-ARM300F GRAND ARM日本JEOL透射电子显微镜

    日本jeol透射电子显微镜jem-arm300f grand arm， 实现了高扫描透射像(stem-haadf)分辨率，配备了jeol自主研发的球差校正器，高加速电压可达300kv，是一款原子分辨率电子显微镜。实现了高的stem-haadf像分辨率。

    价 格：￥电议型 号：JEM-ARM300F GRAND ARM产 地：日本

  • JCM-7000 NeoScope日本JEOL台式扫描电子显微镜

    日本jeol台式扫描电子显微镜 jcm-7000 neoscope，是以"谁都可以操作的sem/eds"为理念的台式扫描电子显微镜， 标配zeromag、live analysis、 live 3d功能。

    价 格：￥电议型 号：JCM-7000 NeoScope产 地：日本

  • JSM-IT200 InTouchScope日本JEOL扫描电子显微镜

    日本jeol扫描电子显微镜 jsm-it200 intouchscope ，是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。使用初学者易懂的样品交换导航，可以轻松地从样品台搜索视野并开始观察sem图像。zeromag能像光镜一样直观地搜索视野，live analysis*2可以不用特意分析就能实时获取元素分析结果，smile viewtm lab能综合编辑观察和分析报告等。

    价 格：￥电议型 号：JSM-IT200 InTouchScope产 地：日本

  • JSM-IT500HR日本JEOL扫描电子显微镜

    日本jeol扫描电子显微镜 jsm-it500hr，采用新开发的高亮度电子枪和透镜系统，可以更迅速便捷地提供令人惊叹的高分辨率图像、高灵敏度和高空间分辨率；从设定视野到生成报告，利用完全集成的软件大大地提高了作业速度。

    价 格：￥电议型 号：JSM-IT500HR产 地：日本

  • JSM-7900F日本JEOL热场发射扫描电子显微镜

    日本jeol热场发射扫描电子显微镜 jsm-7900f

    价 格：￥电议型 号：JSM-7900F产 地：日本

  • JSM-7900F日本JEOL热场发射扫描电子显微镜

    日本jeol热场发射扫描电子显微镜 jsm-7900f，它继承了上一代广获好评的性能如高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等的同时，操作性能大简单化。该设备不依赖操作者的技能，始终能够发挥其佳性能。

    价 格：￥电议型 号：JSM-7900F产 地：日本

  • Serial Block-face SEM 3View日本JEOL发射扫描电子显微镜

    日本jeol热场发射扫描电子显微镜 jsm-7900f，它继承了上一代广获好评的性能如高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等的同时，操作性能大简单化。该设备不依赖操作者的技能，始终能够发挥其佳性能。

    价 格：￥电议型 号：Serial Block-face SEM 3View产 地：日本

  • JED-2300/2300F日本JEOL能谱仪

    日本jeol能谱仪jed-2300/2300f analysis station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的tem/eds集成系统。通过与sem的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。 eds通过检测被电子束激发出的样品特征x射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。

    价 格：￥电议型 号：JED-2300/2300F产 地：日本

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