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美国RTI自动特性图示仪MT Century Curve Tracer
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品牌名称：$brandModel.Title型号：MT Century Curve Tracer原产地：美洲 更新时间：2026/10/19 9:26:57
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详细内容
型号：MT Century Curve Tracer
什么是Curve Tracing?
"Curve tracing" 曲线追踪是用于寻找IC芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace产品提供了广泛的一系列解决方案，从使用powered curve tracing测试小型芯片的开路/短路到使用Latch Up testing测试与更为复杂的多电路的芯片。
RTI＇s MT Century Curve Tracer
RTI 开发的MT Century Curve Tracer是一个性价比较高的曲线追踪设备。MT Century Curve Tracer测试设备，最多到96个channel，提供4种型号可供客戶选择，一定会找到一款符合客户的预算及测试要求的系統。MT Century Curve Tracer 与RTI其他大型curve trace拥有一样的可靠性，功率和软件。像其他RTI机型一样，MT Century系統的设计有与950系列的测试夾具及其它专用夾具连接的接口。
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RTI＇s MultiTrace Test System
原來的自动曲线跟踪器已经提供超过10年。这款系统可以最高检测达625引脚。 它有各种尺寸可供选择，以满足最广泛用戶的需求。
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MultiTrace 的应用:
· 无源曲线追踪器 (Unpowered Curve Tracing):
检测开路，短路和漏电流
· 有源曲线追踪器 (Powered Curve Tracing):
检测漏电流，供电电流问題。 测量大量有用的參数
· 电源电流测量(Supply Current Measurements):
两种方法來測量电流供应 。
A 6-Bus 系統可同時对3组电源測量
· Latch Up 测试: (选配)
根据JESD 78 特征, 找出 Latch-Up 敏感度 .
基础 Curve Tracing 的应用:
· Input-Output 转换功能:
将输入电压接到引腳上，测量輸出引脚电平变化.
· 对晶体管做曲线分析:
检测任何型号的晶体管
· 显微鏡:
使用显微镜定位原件的损伤部位.
· IDDQ 测试:
测量芯片每个状态的电流输入
· 功能性的引导能力:
Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing
根据所輸入信息改变输入 Pin的状态，然后进行量测。測量輸出区域的功能测试状态。
· Kelvin 4-Wire 阻力测试:
使用這种特制的应用软件来控制开关矩阵和收集的数据，实现精密的电阻測量。
RTI＇s MegaTrace 自动直流參數曲线追踪
MegaTrace由648引脚开始一直到2160的引脚，因此其有足夠的能力來测试几乎任何芯片。机器集成化较高，机台很容易移动，也可以与其他仪器如显微鏡，探针台，以及其他远程测试机器一起使用。
曲线追踪功能
· Unpowered 曲线追踪 (连续测试)
· Powered 曲线追踪
· Supply Current Characterization (Idd 测试)
· 6条总线系统的2VDD 及 3 VDD 湔試
其它测量及测试功能
· Latch-Up 测试
· 功能性预处理
· 任何的±15V 一& ±1A直流测量
热门标签：美国RTI自动特性图示仪,MT,Century,Curve,Tracer
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