当前位置:阿仪网 > 深圳市蓝星宇电子科技有限公司 > 产品展示
企业档案
会员类型:标准版
已获得阿仪网信誉 等级评定
(0 -40)基础信誉积累,可浏览访问
(41-90)良好信誉积累,可接洽商谈
(91+ )优质信誉积累,可持续信赖
阿仪网标准版会员:8年
最后认证时间:
注册号: 【已认证】
法人代表: 【已认证】
参观次数:848592
手机网站:http://wap.app17.com/c143096/
公司网站:http://www.lxyee.net
光刻机&3D打印机
- 德国Nnaoscrib
- 德国Heidelberg
- 德国Zeiss
- 德国Eulitha
- 瑞士Swisslitho AG
- 瑞典Mycronic
- 英国Durham
- 英国Nanobean
- NanoArch
- 德国ParcanNano 百及纳米针尖电子束光刻系统
- 德国SUSS
- 美国Sonoplot
- 美国Photonics
- 美国OAI
- China
- 俄罗斯Optosystem
- 美国Coherrent
- 中科院
- 纳米压印机
- Elinoix 电子束光刻机
- 尼康Nikon光刻机
- 奥地利EVG紫外纳米压印系统
- 激光微加工设备
- 瑞士 NnaoFrazor 光刻机
- 英国AML晶圆键合机
- 德国Raith 电子束光刻机
- 德 xiton 准分子激光器
镀膜沉积机
- 德国Iplas
- 德国Sentech
- 英国HHV
- 英国Oxford
- 英国Denton
- 芬兰Picosun
- 美国Nano-master
- 法国Iplas
- 美国TED Pella
- 荷兰 TSST
- 美国Denton Vacuum
- 美Arradiance
- 法国Plassys
- 英国Oxford Vacuum
- 日立Hitachi
- 美国Neocera
- 德国MBE-Komponenten 分子束外延系统
- 英国Quorum涡轮分子泵抽真空镀膜仪
- Syskey 镀膜系统
离子刻蚀与沉积
匀胶涂覆机
半导体辅助设备
半导体微纳检测仪器
- 德国Zeiss扫描电镜
- 德国KSI超声波扫描显微镜
- 德国Mecwins扫描式激光分析仪
- 美国Nanovea三维表面形貌仪
- 德国Sentech薄膜测量仪/光伏测量仪
- 德国Klocke Nanotech 3D纳米级三维测量仪
- 德国YXLON 高分辨率X射线检测设备
- 瑞士Nanosurf 原子力显微镜
- 日本Ribm原子力显微镜
- 日本AND粒子计数器
- 日本JEOL显微镜
- 德国Bruker光谱仪/显微镜/台阶仪
- 韩国Ecopia美国MMR霍尔效应测试仪
- 探针台
- 美国Sonix超声波扫描显微镜
- 美Royce拉力性能测试及芯片拾取放置
- 美国Filmetrics膜厚测量仪
- 美国RTI自动特性图示仪
- 美国TEX Keithley半导体参数分析仪
- 美国MMR霍尔效应测量仪
- 德国neaspec纳米级红外光谱仪
- 少子寿命测试仪
- 纳米压痕仪
- FEI扫描电镜Thermo光谱仪
- XRD X射线衍射仪
- X 射线多晶衍射仪
- 日本 IAS 化学检测分析系统
- 德国IPI 水汽分析系统
- 德国PVA TePla 超声波扫描显微镜
- 德国ThetaMetrisis膜厚测量仪
实验检测仪器
- PPMS 综合物性测量系统
- MPMS3最新一代磁学测量系统
- Anasazi 科研用小型无液氦核磁共振波谱仪
- DynaCool 全新一代完全无液氦综合物性测量系统
- Oxford pulsar 实验室智能核磁共振波谱仪
- 纽迈核磁共振分业析
- Neaspec 德国真空太赫兹近场光学显微镜
- OptoCool 超精准全开放强磁场低温光学研究平台
- 德Attocube低温强磁场原子力/磁力显微镜
- Super-ME-II多铁性磁电测量系统
- Bruker 手持拉曼光谱仪
- 德国耐驰Netzsch
- 德国Moeller 测角仪
- 美Associated 耐压测试仪
- 接触角测量仪
- 氟油检漏仪
- 光学式坐标测量仪
- 光功率计
- Thorlabs傅立叶红外光谱仪
- 纳米压痕仪
- 日本Tohuko 超高灵敏度材料氧化分析仪
- 超精细多功能无液氦低温光学恒温器
- 振动样品磁强计
- 法Alyxan 高分辨质子传递反应质谱
- nanosc 高精度铁磁共振仪
- 美Microsense 磁克尔效应测量系统
- 智能型氦液化器
- 美OAI 光功率计
- 英Glovebox 手套箱
- LakeShore 振动样品磁强计
- 德国Attocube 显微镜
- 粒子碰撞噪声检测仪
- Rion 液体光学颗粒度仪
- ADLEMA 检漏机
- 德YXLON CT检测
- 电子元器件水份分析仪
紫外清洗等离子清洗机
- 美Harrich 等离子清洗机
- 德Diener 等离子清洗机
- 德PVA Tepla 微波等离子清洗机
- 美Nano-master 晶圆清洗机
- 美国Jelight UV清洗机
- 日本SEN 紫外UV清洗机UV灯
- 蓝星宇UV清洗机
- SAMCO紫外臭氧清洗机
太阳能检测仪
UV灯
日立Hitachi
半导体辅助工艺/光刻胶
光刻胶/硅片
化学开封机 / 激光开封机
日本Elionix
德国Lecia 切片掩膜一体机
尼康Nikon光刻机
奥地利EVG光刻杨键合机压印机
日本理音Rion 微粒子计数器
德国Netzsch
德国YXLON 检测仪
已选条件
产品分类
-
德国PVA TePla 超声波扫描显微镜 SAM 301
德国pva tepla 超声波扫描显微镜 sam 301, 利用材料内部组织因密度不同而对超声波声阻抗、超声波吸收与反射程度产生差异的特点,从而实现对材料内部缺陷的定性分析,在半导体封装及材料等行业中得到广泛应用。可分辨出材料、元器件内部的裂纹、空洞、气泡、分层缺陷、杂质等;广泛用于测试各种元器件、smt焊接器件、igbt器件、mems器件、晶圆键合等内部缺陷的无损检测
价 格:¥电议型 号:产 地:欧洲
-
德国ThetaMetrisis膜厚测量仪 FR-ES
fr-es 是一款轻巧便捷的膜厚测量分析系统, 能测量各种厚度范围的透明和半透明涂层以及薄金属层.fr-es 是 实验室里 的 理想 配置。fr-es 可以在各种光谱范围内执行反射率和透射率测量。
价 格:¥电议型 号:产 地:中国大陆
-
德国ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚测量仪
fr-mini 是一款紧凑型装置,专为大学教育和研究实验室设计,用于快速、准确和无损地表征各种不同的涂层。使用 fr-mini,用户还可以在较宽的光谱范围内轻松进行反射率和/或透射率测量。
价 格:¥电议型 号:产 地:中国大陆
-
德国TheMetrisis FR-Scanner自动化超高速薄膜厚度测绘
fr-scanner 是一款紧凑的台式测量工具,全自动测绘涂层的厚度,基底适用于晶圆,掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和准确地测量薄膜特性,比如厚度,折射系数,均匀性,色度等,真空吸盘可应用于任何直径或其它形状的样品。
价 格:¥电议型 号:产 地:中国大陆
-
激光剥蚀多通道原子吸收光谱系统LAGM
lagm激光剥蚀多通道原子吸收光谱系统采用飞秒激光和电流计镜,可精确烧蚀 300 毫米晶圆样品,无需小型封闭腔室。系统配备双注射器模型 msag_ds,支持标准加入法进行定量分析,具备点和面倾斜度、轮廓及杂质分析功能。系统能全自动操作,支持多种分析模式如全扫描、斑点、直线、块模式及深度剖面模式,适用于晶圆和非晶圆样品的全 面分析。
价 格:¥电议型 号:产 地:日本
-
金属标准气雾剂生成系统 MSAG
msag金属标准气雾剂生成系统,是一种用于纳米颗粒分析及直接气体分析的重要工具,尤其适用于电感耦合等离子体质谱法(icp-ms)。该设备能够以0至3μl/min的速度将混合金属标准溶液引入雾化器,确保了高灵敏度和准确性。通过msgg装置监测icp-ms灵敏度变化,并利用钼气态标准作为内标。
价 格:¥电议型 号:产 地:日本
-
连续化学品检测系统 CSI
csi 连续化学品检测系统:化学敏感仪器监测半导体晶圆厂使用的化学物质,通过连续化学采样检测(csi)系统监测微量金属杂质,以避免器件故障。系统采用电感耦合等离子体质谱仪(icp-ms)对化学品进行24/7的连续监测,包括液相(lt)和气溶胶相(at)两种样品运输方式。l
价 格:¥电议型 号:产 地:日本
-
连续化学采样检测系统CSI
化学分析实验室采用连续化学采样检测系统(csi)监测半导体工艺中的化学品,以检测微量金属杂质。该系统使用电感耦合等离子体质谱仪(icp-ms)进行24/7的连续监测,确保化学品在运输和更换过滤器过程中不受污染。在线接口软件(ois)控制阀门、自动进样器和icp-ms,实现自动校准和质量控制。该系统能够生成浓度和计数趋势图,并具备自动重新分析功能。
价 格:¥电议型 号:产 地:日本
-
气体电离探测器GED
气体电离探测器(ged)是一种用于测量气体中金属颗粒浓度的技术,尤其适用于半导体行业中特殊气体的分析。该系统通过一个高效的膜来交换气体,使得样品气体中的金属颗粒能在无需预处理的情况下直接引入到电感耦合等离子体质谱仪(icp-ms)中进行高灵敏度分析。
价 格:¥电议型 号:产 地:日本
-
自动化标准添加系统 ASAS II
asas ii自动化标准添加系统通过自动制备校准标准溶液,提升了电感耦合等离子体(icp)分析的效率与精度。该系统采用非接触式光流传感器和高精度注射泵,实现微量标准溶液的精 准添加。其无阀门设计及全氟聚合物材质确保了系统的高效与耐用性。
价 格:¥电议型 号:产 地:日本
-
自动进样稀释模块ASDM
自动进样稀释模块asdm专为icp自动进样器设计,支持2至1000倍的样品溶液稀释,配备两种型号以适应不同溶液类型。该模块可自动添加标准溶液,并能同时清洗稀释探头及准备下一个稀释样品。asdm提供10ml注射器进行2-20倍稀释,或两支注射器进行50-1000倍稀释。
价 格:¥电议型 号:产 地:日本
-
EDA 407 水汽分析仪
eda 407专为光电子器件的质量控制而设计■ 从密封封装中进行精确气体分析■ 气体成分的直观分析■ 简明易用的软件套件■ 全自动化的气体进样系统
价 格:¥电议型 号:产 地:欧洲
-
硅片金属杂质分析系统 Expert
硅片金属杂质分析系统 expert,全自动汽车扫描系统与真空二次离子质谱法(vpd-icp-ms)结合,为硅片金属杂质分析提供了高效的解决方案。系统具备多个型号,包括适用于实验室和工厂自动化的expert_lab、expert_ps和expert_fab。这些系统支持多种扫描模式,如全扫描、径向扫描和倾斜扫描,可实现从大容量蚀刻到深度轮廓测量的全 面分析。
价 格:¥电议型 号:产 地:日本
-
WaferX 310Rigaku X射线荧光分析仪
日本rigaku x射线荧光分析仪 waferx 310, 通过x射线以大角度照射在镀膜的硅片样品上,产生镀膜 样品的相应特征x射线的方法,进而分析测量硅片样品的 镀膜厚度。
价 格:¥电议型 号:WaferX 310产 地:日本
-
HMS-5300LTH韩国Ecopia 全自动变温霍尔效应测试仪
韩国ecopia 全自动变温霍尔效应测试仪 hms-5300lth,温度范围:80k-573k,测量材料si, sige, sic, gaas, ingaas, inp, gan, tco(including ito),alzno, fecdte, zno 等所有半导体薄膜(p 型和 n 型);
价 格:¥电议型 号:HMS-5300LTH产 地:其它
-
InSEM HT美国KLA 原位高温纳米力学测试系统,纳米压痕仪
美国kla insem ht原位高温纳米力学测试系统,纳米压痕仪,样品加温可达800 ℃,样品尺寸可达10mm,装样系统与真空环境兼容
价 格:¥电议型 号:InSEM HT产 地:美洲
-
HMS-5000/HMS-5500全自动变温霍尔效应测试仪
型号:hms-5000 / hms-5500生产商:ecopia corp.(80k-350k,常温-773k)
价 格:¥电议型 号:HMS-5000/HMS-5500产 地:其它
-
FF35 CT德国YXLON多用途高分辨率CT系统
德国yxlon多用途高分辨率ct系统ff35 ct,微焦点、纳米焦点双射线 源配置,大限度提高多 功能性 • 单或双射线源配置,可大限度提高 ct 应用 多功能性
价 格:¥电议型 号:FF35 CT产 地:欧洲










