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德国ThetaMetrisis膜厚测量仪 FR-ES
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品牌名称：$brandModel.Title型号：原产地：中国大陆 更新时间：2026/10/19 9:27:42
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详细内容
德国ThetaMetrisis FR-ES:精简薄膜厚度测量特性分析系统
FR-ES 是一款轻巧便捷的膜厚测量分析系统, 能测量各种厚度范围的透明和半透明涂层以及薄金属层.
FR-ES 是 实验室里 的 理想 配置。FR-ES 可以在各种光谱范围内执行反射率和透射率测量。
FR-ES 机型设计在以较小的占地面积提供卓 越的涂层表征性能。它广泛应用于各种不同的测量应用：薄膜厚度、折射率、颜色、透射率、反射率等等。
有下列波长范围 FR-ES 配置可用:
可风光/近红外 VIS/NIR (380-1020nm),
紫外可见分光光度计 UV/NIR (200-850nm),
紫外/红外光谱仪 UV/NIR-EXT (200-1000nm),
紫外/线性近红外光谱 UV/NIR-HR (190-1100nm)
N1近红外光谱 NIR-N1 (850-1050nm),
近红外光谱 NIR (900-1700nm).
D VIS/NIR (380-1700nm)
依照不同样品形状尺寸还有各种各样的配件，例如：
。 滤光片可阻挡某些光谱范围内的光
。 FR-Mic 提供微米級別区域进行测量
。 手动载物台, 100x100mm或 200x200mm
。 薄膜/比色皿支架用于吸光度/透射率和化学浓度测量的薄膜/比色皿支架
。 积分球用于漫反射和全反射反射率测量
应用
。 大学 & 研究实验室
。 半导体
。 聚合物和光刻膠厚度测量
。 化学测量
。 介電材料膜厚度测量
。 生物医学
。 硬涂层，阳极氧化， 金属零件加工
。光学镀膜
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