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德国PVA TePla 超声波扫描显微镜 SAM 301
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品牌名称：$brandModel.Title型号：原产地：欧洲 更新时间：2026/10/19 9:27:42
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SAM 301
Scanning Acoustic Microscope
超声波扫描显微镜
利用材料内部组织因密度不同而对超声波声阻抗、超声波吸收与反射程度产生差异的特点，从而实现对材料内部缺陷的定性分析，在半导体封装及材料等行业中得到广泛应用。可分辨出材料、元器件内部的裂纹、空洞、气泡、分层缺陷、杂质等；广泛用于测试各种元器件、SMT焊接器件、IGBT器件、MEMS器件、晶圆键合等内部缺陷的无损检测，是提供高分辨率且无损检测的重要手段，和X-Ray, 电镜等为互补检测手段。
The qualitative analysis of internal defects of materials is widely used in semiconductor packaging and materials industries by using the characteristics of the internal structure of materials to the difference in ultrasonic acoustic impedance, ultrasonic absorption and reflection due to different densities. It can distinguish cracks, voids, bubbles, delamination defects, impurities, etc. inside materials and components; It is widely used for non-destructive testing of internal defects such as various components, SMT welding devices, IGBT devices, MEMS devices, wafer bonding, etc., and is an important means to provide high-resolution and non-destructive testing, and X-Ray, electron microscopy, etc. are complementary detection methods.
德国 PVA TePla– SAM 301 主要技术规格 German PVA TePla – SAM 301 Key Technical Specifications
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