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已选条件
产品分类
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Serial Block-face SEM 3View日本JEOL发射扫描电子显微镜
日本jeol热场发射扫描电子显微镜 jsm-7900f,它继承了上一代广获好评的性能如高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等的同时,操作性能大简单化。该设备不依赖操作者的技能,始终能够发挥其佳性能。
价 格:¥电议型 号:Serial Block-face SEM 3View产 地:日本
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JED-2300/2300F日本JEOL能谱仪
日本jeol能谱仪jed-2300/2300f analysis station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的tem/eds集成系统。通过与sem的马达驱动样品台联动使用,可以进行大范围的观察和分析。 eds通过检测被电子束激发出的样品特征x射线,确定样品含有的元素及成分比,可以进行微区的点分析、线分析及面分析。
价 格:¥电议型 号:JED-2300/2300F产 地:日本
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JSM-IT500日本JEOL扫描电子显微镜
日本jeol扫描电子显微镜 jsm-it500,是jeol intouchscope系列的新机型。 从设定视野到生成报告,用于分析的软件整合于一体,加快了作业速度!是一款无缝操作,使用更加方便的扫描电子显微镜。
价 格:¥电议型 号:JSM-IT500产 地:日本
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JSM-7200F日本JEOL 热场发射扫描电子显微镜
日本jeol 热场发射扫描电子显微镜 jsm-7200f,jsm-7200f的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-jsm-7800f prime采用的浸没式肖特基电子枪技术,标配了ttls系统(through-the-lens system),因此无论是在高/低加速电压下,空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。
价 格:¥电议型 号:JSM-7200F产 地:日本
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IB-09060CIS日本JEOL低温冷冻离子切片仪
日本jeol低温冷冻离子切片仪ib-09060cis,冷却保持时间长,有效地抑制了热损伤。易受热损伤的样品,也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。
价 格:¥电议型 号:IB-09060CIS产 地:日本
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EM-09100IS日本JEOL 离子切片仪
日本jeol 离子切片仪 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度(0°到6°)的氩离子束通过遮光带照射样品,大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也好,对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。
价 格:¥电议型 号:EM-09100IS产 地:日本
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IB-19530CP日本JEOL截面样品抛光仪
日本jeol截面样品抛光仪ib-19530cp,采用多用途样品台,通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座,不仅能截面刻蚀,还可以进行平面刻蚀、离子束溅射镀膜等。
价 格:¥电议型 号:IB-19530CP产 地:日本
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IB-19530CP日本JEOL截面样品制备装置
日本jeol截面样品制备装置ib-19530cp,采用多用途样品台,通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座,不仅能截面刻蚀,还可以进行平面刻蚀、离子束溅射镀膜等。
价 格:¥电议型 号:IB-19530CP产 地:日本
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SE 800 PV激光椭偏仪
se 800 pv 激光椭偏仪 sentech设计了se 800 pv,用于表征由sinx/sio2、sinx/siny或sinx/al2o3组成的多层钝化膜和防反射涂层。分析了单晶和多晶硅太阳电池的折射率指数、吸收和膜厚。在配方模式下进行复杂的测量,速度快,操作容易。
价 格:¥电议型 号:SE 800 PV产 地:欧洲
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RTMALD实时监测仪
sentech ald实时监测仪是一种新型的光学诊断工具,是心灵超高分辨率的单一ald循环。在不破坏真空的条件下分析薄膜特性(生长速率,厚度,折射率),在短时间内开发新工艺、实时研究ald循环中的反应机理是sentech ald实时监测仪的主要应用。
价 格:¥电议型 号:RTM产 地:欧洲
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Crossbeam 350,Crossbeam 550德国ZEISS蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB/SEM
德国zeiss蔡司聚焦离子束扫描电镜fib/sem crossbeam 350,crossbeam 550
价 格:¥电议型 号:Crossbeam 350,Crossbeam 550产 地:欧洲
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JEM-1000超高压扫描透射电子显微镜
jem-1000 超高压透射电子显微镜,由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短,即使增大物镜靴之间的间隙,也能获得高分辨率的图像。此外,电子束具有很强的穿透能力,即使厚样品也能观察到清晰的图像,这是超高压透射电子显微镜的大优点。
价 格:¥电议型 号:JEM-1000产 地:日本
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JED-2300T日本JEOL能谱仪
jed-2300t 能谱仪是以“图像观察和分析”为基本理念的tem/eds集成系统。在分析数据过程中,自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数,进行数据管理。
价 格:¥电议型 号:JED-2300T产 地:日本
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EM-05500TGPTEM断层扫描系统
日本电子jeol em-05500tgp tem断层扫描系统,采用独特算法的软件,实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。
价 格:¥电议型 号:EM-05500TGP产 地:日本
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JEM-3200FSJEOL场发射电子显微镜
jem-3200fs场发射电子显微镜配备了高加速电压为300kv的场发射电子枪(feg)和镜筒内置式ω型能量过滤器,能为广泛的研究域提供各种全新的解决方案。
价 格:¥电议型 号:JEM-3200FS产 地:日本
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JEM-2100PlusJEOL扫描透射电子显微镜 Plus
日本电子jem-2100plus 透射电子显微镜,不仅拥有信誉卓著的jem-2100 的电子光学系统,还增加了新的控制系统,大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜jem-2100plus性能优越,操作方便,简明易懂,在材料、医学、生物学等多个研究域提供优异的解决方案。
价 格:¥电议型 号:JEM-2100Plus产 地:日本
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JEM-F200场发射扫描透射电子显微镜
jem-f200 场发射透射电子显微镜,以节能环保、减排低碳为理念开发的jem-f200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
价 格:¥电议型 号:JEM-F200产 地:日本
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SENresearch 4.0拥有宽光谱范围的光谱椭偏仪
nano-master 离子束刻蚀溅射镀膜一体机 nsenresearch 4.0:拥有宽光谱范围的光谱椭偏仪
价 格:¥电议型 号:SENresearch 4.0产 地:欧洲
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SENpro光谱椭偏仪
德国 sentech 低成本高效益的光谱椭偏仪senpro,senpro椭偏仪是椭偏仪应用的智能解决方案。它具有角度计,入射角度步进值5°。操作简单,快速测量和直观的数据分析相结合,以低成本效益高的设计来测量单层和多层膜的厚度和光学常数。
价 格:¥电议型 号:SENpro产 地:欧洲
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SENDIRA红外光谱椭偏仪
sendira红外光谱椭偏仪,振动光谱的特点是傅立叶红外光谱仪ftir。测量红外分子振动模的吸收谱带,分析长分子链的走向和薄膜的组成。红外光谱椭偏仪适用于测量导电膜的电荷载流子浓度。
价 格:¥电议型 号:SENDIRA产 地:欧洲










