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日本JEOL透射电子显微镜JEM-ARM300F GRAND ARM
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品牌名称：$brandModel.Title型号：JEM-ARM300F GRAND ARM原产地：日本 更新时间：2026/10/19 9:26:47
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详细内容
日本JEOL透射电子显微镜JEM-ARM300F GRAND ARM
JEM-ARM300F 实现了高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，高加速电压可达300kV，是一款原子分辨率电子显微镜。实现了高的STEM-HAADF像分辨率。
产品规格：
| 分辨率 | 300 kV，80 kV |
|
| 物镜种类※1 | UHR靴 | HR靴 |
| STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器 | 0.058nm | 0.063nm |
| TEM分辨率（300 kV） | 线分辨率0.05nm | 线分辨率0.06nm |
| 使用TEM校正器 | 非线性信息分辨限0.06nm | 非线性信息分辨限0.07nm |
| 线性信息分辨限0.09nm | 线性信息分辨限0.12nm |
产品特点：
· 实现了高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率
· JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，高加速电压可达300kV，是一款原子分辨率电子显微镜。实现了 高的STEM-HAADF像分辨率。
· STEM-HAADF像的保证分辨率达到了所未有的58pm
· 采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达58pm（300kV,超高分辨率靴、使用STEM球差校正器时）。
· ETA校正器 JEOL自主研发的12球差校正器 ※选配件
· ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。
· 强大的冷场发射电子枪HyperCF300
· 标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。
· 两种物镜靴
· 为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜靴。
· 丰富的选购件
· 能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。
· 大范围的加速电压设置
· 标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV，使用范围广。
· 新开发的真空系统
· 新的排气系统达到了高的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中， 大限度地减轻了对样品的污染和损伤。
· 高稳定的镜筒和样品台
· 整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高 度。
热门标签：日本JEOL透射电子显微镜JEM-ARM300F,GRAND,ARM
