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日本JEOL 软X射线分析谱仪
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品牌名称：$brandModel.Title型号：原产地：日本 更新时间：2026/10/19 9:26:50
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日本JEOL 软X射线分析谱仪
软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。
产品规格：
· 能量分辨率0.3eV（Al-L 光谱图73eV处测试）
· 获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区50-170eV
· 获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区70-210eV
· 分光谱仪艙安装位置：
· EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧）
· FE-SEM的WDS接口（正面左后侧）
· 分光谱仪尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm
· * 从接口包括CCD的距离
· 分光谱仪重量 25kg
· 适用机型
· EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
· SEM ： JSM⁻⁷800F, JSM⁻⁷800 Prime, JSM⁻⁷100F
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热门标签：日本JEOL,软X射线分析谱仪
