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怎样用探针来测定胶质层的上、下部层面?

提供者:鹤壁市鑫宇仪器仪表有限公司   发布时间:2013/10/14 9:01:23  阅读次数:888次  进入该公司店铺

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测定上部层面时,探针插入测孔中的感觉有阻力即可。因为胶质层表面是软的胶体状物质,所以不能用力去扎,否则会将上部层面扎凹而使测值偏低。
测定下部层面时,则要使探针穿透胶质体达到半焦表面。由于胶质体的粘度大小不一,所以用力的大小也应不同。对于具有平滑下降、波形之类的体积曲线的煤样,因为胶质体的粘度不大,稍用力即可穿透胶质体;而之字形、山形之类的煤样,因为胶质体的粘度较大,则要用力才能扎透胶质体;如胶质体粘度很大,则要用很大的力气才能扎穿。所以测下部层面时要根据胶质体的粘度大小,分别情况用不同的力去扎穿胶质体。力量大小的掌握,主要靠经验。
半焦表面较硬,很容易判断。
这里特别要注意的是;对于平滑下降和部分平滑下降型的煤样由于胶质体粘度非常小,而下部层面-半焦表面也较软(因为结焦不好),所以测定的手感不易掌握,稍一用力就会将半焦扎穿,而且这个往往被遗留下来,直到实验结束,因而使测值不准。所以对于这样的煤样测定时,插入探针一感到有阻力了就算是上部层面,然后轻轻地扎穿胶质体,一感到有稍大一些阻力,即为下部层面,且不可用力去扎。

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