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Thetametrisis:涂层厚度测量、薄膜厚度测量、光学参数测量、薄膜表征

提供者:岱美仪器技术服务(上海)有限公司   发布时间:2020/7/16 14:21:14  阅读次数:264次  进入该公司店铺

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希腊thetametrisis基础型膜厚仪一款模块化,具有可扩展功能的系列膜厚测量工具。每套系统基本由四个模块构成(核心单元部分、应用订制部分、工作区类型和工作区配置),并且系统还提供平台面板和各类丰富的配套应用附件。针对广泛范围的不同应用,如标准吸光度/透射率、反射测量、以及在不同温度和环境下(甚至是液体中)的薄膜表征的测定。

可实现薄膜表征功能:测量光学参数、薄膜厚度

目前有以下产品系列:

FR-Thermal: 薄膜热处理过程中的实时表征工具

FR-Scanner: 自动化超高速jing准薄膜厚度测绘

FR-Mic: 微米级薄膜表征

FR-pOrtable:一款 USB 驱动的薄膜表征工具

ContactProbe-ST: 待测涂层现场测量厚度工具

FR-Education: 用于高校教学实验室的薄膜表征工具

FR-Liquid: 浸入液体中的涂层的现场实测和表征

FR-pRo: 按需搭建的薄膜特性表征工具

FR-pOrtable是一款独特的便携式测量仪器,可对透明和半透明的单层或多层堆叠薄膜进行精确的无损(非接触式)表征。使用FR-pOrtable,用户可以在380-1020nm光谱范围内进行反射率和透射率测量及薄膜厚度测量。

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