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Thetametrisis:涂层厚度测量、薄膜厚度测量、光学参数测量、薄膜表征
点击次数：266 发布时间：2020/7/16 14:21:14
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贾**
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希腊thetametrisis基础型膜厚仪一款模块化，具有可扩展功能的系列膜厚测量工具。每套系统基本由四个模块构成（核心单元部分、应用订制部分、工作区类型和工作区配置）,并且系统还提供平台面板和各类丰富的配套应用附件。针对广泛范围的不同应用，如标准吸光度/透射率、反射测量、以及在不同温度和环境下（甚至是液体中）的薄膜表征的测定。
可实现薄膜表征功能：测量光学参数、薄膜厚度
目前有以下产品系列：
FR-Thermal: 薄膜热处理过程中的实时表征工具
FR-Scanner: 自动化超高速jing准薄膜厚度测绘
FR-Mic: 微米级薄膜表征
FR-pOrtable:一款 USB 驱动的薄膜表征工具
ContactProbe-ST: 待测涂层现场测量厚度工具
FR-Education: 用于高校教学实验室的薄膜表征工具
FR-Liquid: 浸入液体中的涂层的现场实测和表征
FR-pRo: 按需搭建的薄膜特性表征工具
原创作者：岱美仪器技术服务（上海）有限公司
