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产品展示
高低温分析晶圆测试探针台
点击次数：1915
价格：￥电议
更新日期：2026/3/18 11:08:35
生 产 地：中国大陆
产品型号：
- 电话: 13******861
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- 交换名片后展示联系方式 → →
详细内容
- 产品介绍 产品参数 －－>
产品特性
1. 非真空环境下的低温测试，可达-100℃
2. 大手柄驱动，操作舒适，无回程差设计
3. 兼容高倍率金相显微镜，可微调移动
4. 0.2微米以上芯片内部线路/电极/PAD测试
5. 高等院校/研究所/公司实验室使用
6. VCSEL/LD/LED/PD的光功率/光谱测试
7. 最大可用于12英寸以内样品测试
8. VCSEL/LD/LED/PD的IV/CV特性测试
9. 精密丝杆传动结构，线性移动
10. 器件的高频特性测试（最高至300GHz频率）
主要技术指标
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