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高低温分析晶圆测试探针台

高低温分析晶圆测试探针台

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更新日期:2026/3/18 11:08:34

生 产 地:中国大陆

产品型号:LS-WPS150/200/300-TEC

简单介绍:非真空环境下的低温测试,可达-100℃ ;大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计;兼容高倍率金相显微镜,可微调移动 ;0.2微米以上芯片内部线路/电极/PAD测试;.高等院校/研究所/公司实验室使用 ;VCSEL/LD/LED/PD的光功率/光谱测试;最大可用于12英寸以内样品测试

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本公司今日报道:产品特性1. 非真空环境下的低温测试,可达-100℃ 2. 大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计3. 兼容高倍率金相显微镜,可微调移动 4. 0.2微米以上芯片内部线路/电极/PAD测试5. 高等院校/研究所/公司实验室使用 6. VCSEL/LD/LED/PD的光功率/光谱测试7. 最大可用于12英寸以内样品测试 8. VCSEL/LD/LED/PD的IV/CV特性测试9. 精密丝杆传动结构,线性移动 10. 器件的高频特性测试(最高至300GHz频率)

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