参考标准：JEDEC JESD22-A103C、GB/T 2423.2-2021、AEC-Q100

应用领域：车载电控保护电路、工业电源浪涌防护、通信主板 ESD 防护、光伏逆变器控制板

方案摘要：高温老化箱模拟器件长期高温带载工况，监测 TVS 二极管反向漏电流随老化时长的漂移趋势，评估高温下器件参数稳定性，筛选可靠防护器件。

实验目的：TVS 二极管长期在高温环境持续偏置工作，PN 结缺陷会逐步扩展，反向漏电流上升，轻则增加静态功耗，重则误触发钳位、丧失浪涌保护能力。本试验持续监测漏电流变化，验证器件高温寿命裕量，剔除早期失效样品。

仪器耗材试剂：高温老化试验箱、半导体参数分析仪、待测 SMB 封装 TVS 样品、老化测试工装、高温导线。

实验过程：选取同批次 TVS 样品 3pcs，焊接在老化板，施加 80% 额定反向工作电压；放入高温箱，设置温度 125℃，连续老化 1000h；分别在 0h、168h、500h、1000h 取出冷却至室温测试反向漏电流。

实验结果：1# 样品初始漏电流 0.12μA，1000h 后 0.18μA；2# 样品初始 0.11μA，1000h 后 0.15μA；3# 样品在 500h 时漏电流突增至 3.2μA，超出规格上限。

数据分析：1#、2# 样品漏电流缓慢小幅抬升，属于正常老化漂移；3# 样品存在内部微缺陷，高温加速下缺陷导通，发生早期劣化。 、

讨论总结：该批次存在个别不良品，3# 器件不适合长期高温工况；本方案可用于 TVS 器件来料筛选、车规级器件可靠性摸底。

以上方案仅供参考，在实际试验过程中，可根据具体的试验需求、资源条件以及产品的特性进行适当调整与优化。