在众多的科学研究和工业生产领域中，准确测量粉体颗粒的大小和分布情况至关重要。从制药行业对药品颗粒的严格把控，到化工生产中对原材料粒度的精确要求，再到材料科学中对新型材料颗粒特性的深入研究，粒度分析都扮演着不可或缺的角色。而干法激光粒度分析仪，作为粒度测量领域的重要仪器，正发挥着越来越重要的作用。

　　工作原理：基于光散射现象的测量

　　干法激光粒度分析仪主要利用颗粒对光的散射现象来实现粒度分析。当一束平行光在传播过程中遇到障碍物颗粒时，光波会发生散射(衍射)偏转。根据 “Mie 散射理论” 或 “Fraunhofer 衍射理论 ”，这种散射(衍射)现象与颗粒的大小密切相关。一般来说，颗粒粒径越大，光波偏转的角度越小;颗粒粒径越小，光波偏转角度越大。激光粒度分析仪通过探测器接收这些散射光，并根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。例如三体仪器ST-JL3003激光粒度仪采用的长焦距光学设计、优化的三维空间分布及多后向探测器布局等，能够准确地获取散射光能信息，从而实现对颗粒粒度的测量。

　　技术特点：多方面创新保障性能

　　可靠的光学平台：许多的干法激光粒度分析仪采用整体式外罩、铝合金底座和模块化结构设计。如ST-JL3003系统，其防尘防水防外界杂散光效果良好，维护需求极少且简单易行。通过调试工装一次性地调节定位辅助探测器和主探测器相互位置，能获得更加准确的大角度光能数据，提升仪器对小颗粒的测试性能。

　　优化的光路结构：以单镜头光路结构为例，采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，所有角度的散射光均能被探测器定位接收，一致性好。同时，减少了折射、反射面，降低了仪器工作时的背景噪声，提高了信噪比。像 Topsizer 激光粒度分析仪就采用了这种设计，极大地提升了测量性能。

　　高性能光源：不少仪器选用进口 He - Ne 气体激光光源，这种光源光学质量更好，稳定可靠，预热时间短，使用寿命长。相比于其他类型的激光器，具有单色性好、相干性高、发散角小、稳定性强等优点，确保了仪器良好的稳定性和的分辨力，如ST-JL3003就采用了此类光源。

　　合理的探测器组合：对光电探测器布局进行深度优化整合，由前向、侧向、大角度、多后向散射光探测器组成三维立体检测系统。所有探测器准确地布置于傅立叶聚焦面上，结合低噪音大尺寸的大角度、后向探测器的应用，确保了仪器具有良好的动态范围、的分辨力和灵敏度，能有效保证小颗粒散射光能信息的准确获取。Topsizer 激光粒度分析仪的探测通道数多达 98 个，组成了高效的三维立体检测系统。

　　智能自动对中：智能软件控制自动对中系统保证了准确的光学对中以及多次测量的重现性。自动对中机构精度高，速度快，既可以作为自动测量的一部分，也可通过在屏幕上单击鼠标完成。结合智能判断对中软件功能，避免了传统粒度测量中因对中不良导致的结果偏差，还能延长对中机构寿命，如 Topsizer 和 LS - 909E 都具备这一功能。

　　的数据采集及处理技术：采用优化的同步 8 通道 18 位 ADC 模数转换采样技术和超低泄露电流采样保持开关，满量程精度达到 0.15%，电背景更低。结合电背景补偿功能，有利于获得更加准确的光能数据，提高了光能获取的动态范围，测试分辨能力也得到相应提高。