在手持式光谱仪的测量过程中，实际工作中被测量的样品，往往其成份是由多种元素组成，除待测元素以外的元素统称为基体。由于被测量的样品中，其基体成份是变化的(这个变化一是指元素的 变化，二是指含量的变化)，它直接影响待测元素特征X射线强度的测量。换句话说，待测元素含量相同，由于其基体成份不同，测量到的待测元素特征X射线强度 是不同的，这就是基体效应。基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一。
基体效应是个无法避免的客观事实，其物理实质是激发(吸收)和散射造成特征X射线强度的变化，除待测元素外，基体成份中靠近待测元素的那些元素对激发源的 射线和待测元素特征X射线产生光电效应的几率比轻元素(在地质样品中一些常见的主要造岩元素)的几率大得多，也就是这些邻近元素对激发源发射的X射线和待 测元素的特征X射线的吸收系数比轻元素大得多;轻元素对激发源放出的射线和待测元素的特征X射线康普顿散射几率比重元素大得多。
1. 放射源放出的射线激发待测元素A，产生特征X射线AK线称为光电效应。手持式合金分析仪价格
2.AKX线在出射样品时遇到C元素激发了C元素特征X射线CK而A元素特征X射线强度减小了，称为吸收效应。
3.放射源激发了B元素，BKX线又激发了A元素，使A元素特征X射线计数增加，称为增强效应，又称为二次荧光。