X射线衍射仪是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。
可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。
X射线衍射仪使用注意事项：
(1)固体样品表面>10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。
(2)对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。
(3)对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变)，测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。
(4)粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。
构造：
X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，为衍射仪的基本构造原理图，主要部件包括4部分。
(1)高稳定度X射线源提供测量所需的X射线,改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长,调节阳极电压可控制X射线源的强度。
(2)样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。
(3)射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。
(4)衍射图的处理分析系统现代衍射仪都附带安装有衍射图处理分析软件的计算机系统,它们的特点是自动化和智能化。
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