集成电路卡弯扭曲试验机产品用途：用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡等卡类的弯曲和扭曲性能测试。

IC卡动态弯扭曲试验机的工作原理主要是通过一个曲柄装置来驱动其移动部分，‌使弯曲应力以一定频率（如0.5Hz）的正弦曲线方式变化‌，从而实现对IC卡（包括磁条卡、IC芯片卡、集成电路卡等）的弯曲和扭曲性能测试‌。

这种测试机针对性地符合多项国家和国际标准，如国标GB/T 16649.1、GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998等，用于检测IC卡在不同弯曲和扭曲条件下的性能表现‌。动态弯扭曲试验机能够按照预设的测试速度（如弯曲29r/min）和测试周期（1~999次）对IC卡进行反复弯曲扭转试验，同时可以控制扭曲度（如15°±1°双向）等参数，以评估IC卡的物理力学性能和工艺性能‌。

集成电路卡弯扭曲试验机技术参数：

1.型号：MX(IC)

2.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

3.測試周期：1~9999次

4.扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

5.正反向各15°，总扭曲角度30°

6.长边大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

7.长边小位移量为2mm±0.50mm，

8.短边大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

9.长边小位移量为1mm±0.50mm，

10.夹具安装尺寸按照国家标准执行。

11.长边弯曲工位数：5工位

短边弯曲工位数：5工位

双向扭转工位数：5工位

12.電 壓：AC220V±5%

13.功 率：35W

14.外形尺寸：L670 X W380 X H220（mm)

15.仪器重量：70kg