Leica Grain Expert 提供的材料研究和冶金学晶粒度分析技术。用户可以确信分析过程符合不同的实验室要求。Leica Grain Expert 涵盖面向金相学晶粒尺寸分析的多个标准，如ASTM E112、 DIN/EN/ISO 643、GOST 5639和JIS G0551。

其采用的图像处理技术，可自动增强和准确检测晶界。操作员始终可修改和确认发现的结果。分析结果可用于验证材料是否符合买家与制造商确定的技术规范，识别制造过程中的变动，并提供材料结构和属性的研究数据。

Grain Expert 软件简单易学。LAS X Grain Expert可帮助用户选择合适的晶界检测算法。只需选择与样品相似的示例图像，便可应用正确的分析算法。

在晶界检测之，可使用附带的图像分析模块进行二进制或图像处理。这些技术常用于晶界模糊的情形，以便更好地呈现晶界并应用算法。即使腐蚀效果不佳，也不会降低分析质量。针对质量控制和研发目的，还可定制基于 Excel 的报告模板。

使用 Leica Grain Expert 软件

实现详尽的晶粒度分析

LAS X Grain Expert 软件能够用 G (晶粒度号) 表示平均晶粒度，并计算:

·晶粒度号分布、平均值、标准偏差和 其他统计值;

·平均晶粒面积;

· big和小晶粒度;

·置信水平 (p 值);

·结果的相对准确度。

关于使用 Leica LAS X Grain Expert 软件进行晶粒度分析的示例请参见右侧的表格以及下面的图表。