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仪器类型：

XRF镀层测厚仪

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问题现象描述：

客户购买的仪器主要是测试连接器的触点，由于客户的样品尺寸小，宽度约为0.06mm，形状是半圆弧面，所以客户使用0.05mm的准直器测试，测量结果与电镀设计值差异很大，只有设计值的一半，通过使用显微镜对金属断面测量，证明了镀层厚度和设计值接近，差异原因是镀层测厚仪测试结果异常。

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应用背景知识：

FT系列镀层测厚仪根据客户的需求可以选配多种准直器，以满足不同的测量场合。

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现场服务方案：

日立工程师现场确认仪器工作状态，X射线管的电压电流正常，软件接收到的信号强度正常。对检量线的条件进行确认未见异常，使用标准片重新校准检量线后测试标准片，数据准确稳定性也很好。然后测试客户产品，得到的结果稳定，但是，数据大小与客户的理论值仍有很大差异，超出镀层测厚仪的误差标准。

据以上测量，判断有可能是X射线光照在了没有镀层的位置。后续在检查中发现准直器的实际光斑偏大同时也发现镭射对焦高度偏高，根据光束的散射与距离的关系，手动调整镭射点的高度并调整摄像头的焦距。完成以上操作后测试的结果与设计值基本一致，问题顺利解决。