1）开机

按下ON键后仪器听到一声鸣响，屏幕上显示仪器编号GO8100。自动恢复上次关机前的参数设置后，将显示0，仪器进入待测状态。可测量工件了。经过一段时间不使用仪器将自动关机。

2）测量

仪器会自动感应被测基体：感应到是磁性基体时仪器显示Fe；感应到是非磁性金属是仪器显示NFe。测量时请始终保持仪器处于垂直状态！

3）零位校准

在待测状态下将探头垂直压在基准块上，之后屏幕上会显示<╳.╳μm>，然后按下“ZERO”键进行零位校准。在上述过程中探头一直压在基体上，直到屏幕显示（0 CAL）后才能提起探头。重复零校准可获得更为精确的零点。

注：因我们提供的Fe片和Al片的材质与贵司的基材不完全相同即零位并不一样，因此最科学的方法是在贵司实际工件光洁底材上做零位校准！

4）两点校准

4.1 先校准零位。方法同零位校准。

4.2 将标准膜块方在基准块上，用仪器测出其值。若显示屏上测量值与标准膜片不同，则可使用▲、▼来修正读值，使其达到标准。校准完成，可以开始测量。用▲、▼来修正读值时请提起探头

注意事项

a)基体金属特性

对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

b)基体金属厚度

检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。

c)边缘效应

不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

d)曲率

不应在试件的弯曲表面上测量。

e)读数次数

通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

f)表面清洁度

测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

g)磁场

周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作

h)测头取向

测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直