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公司新闻
高电场介电、损耗、漏电流测试系统，赋能高压 MLCC 陶瓷介质可靠性研究
点击次数：213发布时间：2026/8/25 10:55:49
高电场介电、损耗、漏电流测试系统，赋能高压MLCC陶瓷介质可靠性研究
新能源汽车、功率电子产业快速迭代，高压多层陶瓷电容器（MLCC）作为功率变换单元滤波元器件，陶瓷介质长期承受高电场、宽温度交变工况。在强电场作用下，介质电畴翻转、氧空位迁移，会引发介电常数漂移、介质损耗上升、漏电流增加，严重时诱发介质击穿失效。传统低压LCR测试仪仅可实现微弱激励条件测试，无法还原器件真实高压服役状态。北京华测试验仪器Huace-DF500高电场介电、损耗、漏电流测试系统，针对高压MLCC陶瓷介质打造电场-温度耦合集成式测试方案，支撑陶瓷介质配方研发、材料机理研究。
Huace-DF500系统由测试主机、20kV高压功率放大器、宽温环境试验箱、HuacePro软件平台共同组成。设备依托数字锁相放大器技术，具备抗干扰能力，可在复杂电磁环境下完成微弱信号采集；介电谱测试频率覆盖1mHz-10kHz，高压功率放大器输出可达±20kV交直流峰值，电流测量范围2×10⁻¹³~2×10⁻³A，可准确捕捉皮安级漏电流信号；配套程控高低温试验箱实现-80℃~230℃宽温区间可控，采用三电极法完成样品夹持，实现同一试样同步开展高电场下介电常数、介质损耗、漏电流多参数联合测试，无需反复拆装样品，规避多次装夹带来的接触误差。
设备支持现场校正，配置40mA交流峰值过流快速保护，保障样品与设备稳定；HuacePro软件基于LabVIEW开发，具备断电数据保存恢复功能，自动记录不同温度、不同电场、不同频率下全部试验数据，输出完整介电谱、漏电流变化曲线，方便科研人员分析强场-温度协同作用下陶瓷介质的极化、弛豫、漏电劣化规律，对比不同粉体配方、烧结工艺介质样品性能差异，为钛酸钡基陶瓷介质改性提供量化试验依据。
整套系统可完整覆盖高压MLCC介质材料研发、加速老化评价、失效机理分析等科研场景。未来华测仪器将持续深耕功能电介质测试领域，围绕功率电子陶瓷介质测试痛点，不断迭代高电场综合测试装备，助力国内高压MLCC介质材料国产化技术攻关。
