当前位置： 阿仪网 > 物理仪器 > 表面物性测试 > 其他 > 北京华测试验仪器有限公司 > 产品展示 > 工程塑料绝缘材料系列 > 电容器温度特性评估系统 > MLCC电容器温度特性测试系统 评估材料绝缘性能和电学特性HCCT-40H
MLCC电容器温度特性测试系统 评估材料绝缘性能和电学特性
价格：￥ 电议
品牌名称：北京华测型号：HCCT-40H 原产地：中国大陆 更新时间：2026/9/21 9:16:36
店铺主推品 热销潜力款
支付方式：
- 支付宝 微信 银行转账
产品完善度： 访问次数：690
新品推荐
- 空间电荷测试系统
- 铁电分析仪
- 高压功率放大器
- 冷热台
- 探针台
- 高压漏电起痕试验仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高温绝缘电阻率测试仪
- 50点耐压测试系统
- 耐电弧试验仪
- 电压击穿试验仪
- 绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统
- 电容器温度特性评估系统
- 高电场介电、损耗、漏电流测试系统
- 表面电位衰减系统
- 压电材料应变测试仪
- 导通电阻测试系统
- 变频电压击穿试验仪
- 真空晶圆退火炉
- 多功能任意波高压薄膜极化装置
- 高压直流电导测试系统
脉冲发生器
功率放大器系列
- 200V高压放大器
- 500V高压放大器
- 500V多通道高压放大器
- 700V高压放大器
- 1kv高压放大器
- 2kv高压放大器
- 2kv多通道高压放大器
- 4kv高压放大器
- 5kv高压放大器
- 5kv-HS高压放大器
- 8kv高压放大器
- 10kv高压放大器
- 10kv-HS高压放大器
- 20kv高压放大器
- 20kv-HS高压放大器
- 30kv高压放大器
- 40kv高压放大器
- 7kV高压放大器
- 50kV高压放大器
- 25kv高压放大器
工程塑料绝缘材料系列
- 高低温环境击穿耐压测试平台(变温电压击穿)
- 高压直流电源
- 高压漏电起痕试验系统
- 导电与防静电体积电阻率测试仪
- 绝缘诊断测试系统
- 耐腐蚀老化试验平台
- 绝缘材料电阻评价平台
- 大电流起弧试验仪
- 半导体封装材料TSDC测试平台
- 低压漏电起痕试验系统
- 工频介电常数测试仪
- 电压击穿试验仪
- 耐电弧试验仪
- 表面、体积电阻率测试仪(高阻计)
- 空间电荷测量系统
- 耐压绝缘测试仪
- 电容器温度特性评估系统
- 传感器多功能综合测试系统
- 介质损耗分析系统
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 高频高压绝缘电阻、介电测试系统
功能材料系列
- 漆包线击穿耐压试验仪
- 高温介电温谱仪
- 高压极化装置
- TSDC热刺激电流测试系统
- 红外光纤激光测振仪
- TSDC热激励去极化电流系统
- 铁电分析仪2000
- 铁电分析仪3000
- 铁电测试系统
- 高温绝缘电阻测试仪
- 半导体封装材料TSDC测试系统
- 电介质充放电测试系统
- 阻抗分析仪
- 功能材料电学综合测试系统
- 高压薄膜极化装置
- 探针台
- 压电系数测试仪
- 多通道介电/电阻测试模块
- 锂离子电池隔膜电弱点测试仪
- 闭孔温度破膜温度测试仪
- 50点耐压测试系统
- 高低温冷热台
- 储能新材料电学综合测试系统
- 热释电系数测试仪
- 高温介电温谱测试仪
- 教学用铁电分析仪
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 压电陶瓷强场介电性能分析仪
高压电源与高压驱动装置
半导体封装材料测试系统
储能科学与工程试验设备
改性塑料试验设备
绝缘材料试验设备
- 绝缘耐压测试仪
- 导电防静电体积电阻率测试仪
- 工频介电常数介质损耗测试仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高压漏电起痕试验仪2
- 耐电弧试验仪
- 表面体积电阻率试验仪
- 电压击穿试验仪
- 真空电热老化测试系统
- 多通道介电/电阻测试模块
- VD系列高压探头
- HCVD系列电阻分压器
- 半导体高低温绝缘电阻测试系统
- 多通道电流矩阵模块
高低温环境试验设备
静电试验设备系列
国标设备
附件及配件
冷热台系列
- TEC(帕尔贴)冷热台
- PE120帕尔贴冷热台
- 1400℃超高温原位光学加热台
- 1500℃超高温原位光学加热台
- -120℃~600℃光学冷热台
- -190℃~600℃光学冷热台(XY)
- 原位拉伸台
- 常规探针冷热台
电线电缆行业设备
企业档案
会员类型：旗舰版
已获得阿仪网信誉 等级评定
(0 -40)基础信誉积累，可浏览访问
(41-90)良好信誉积累，可接洽商谈
(91+ )优质信誉积累，可持续信赖
阿仪网旗舰版会员：15年
工商认证 【已认证】
最后认证时间：
注册号：**** 【已认证】
法人代表： 【已认证】
参观次数：2491417
详细内容
产品特点
可用于评估特定温度环境下电容器和各种材料的静电容量 (C)、损耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。
01.64个通道的自动测量该系统可以测量不同温度环境下的静电容量 (C)、损耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。 您可以选择8~64个通道。
02. 图形功能允许实时查看测量结果收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查。
03.多种可选夹具适用于不同的试验样本（可选） 除了 SMD 组件的专用夹具外，我们还提供了根据离散设备形状定制的夹具。
04.可从不同测试模式选择温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验。
<温度特性评估测试> 在此测试模式下，自动记录特性数据，并与温度变化同步。
<持续运行测试> 该测试模式测量以下参数的变化特定中随时间推移 的特征自动记录数据。
<频率特性评价试验> 该试验模式在特定温度环境下改变频率的同时，自动记录不同频率下的特性数据。测试可与温度特性评价测试或恒定运行测试相结 合。
应用程序
电容器
01.静电容量(C)
02.损失因子(D)
03.阻抗的温度特性 (Z)
04.频率特征
电子材料
01.印刷电路板
02.通量
03.绝缘材料（树脂、薄膜等）
04.介电材料（钛、陶瓷、钽、铝电解材料等）
产品参数
01.测量项目：静电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs，Rp) *和电感 (Ls，Lp) *
02.检测项目：温度特性评价试验（相对于温度的变化） 恒定运行检测（相对于检测时间的变化） 频率特性评价试验 （相对于频率的变化）
03.通道配置：8通道（标准）；值64通道可扩展8通道增量
04.测量方法：交流四端对测量
05.测量范围：测量频率：20 Hz ~ 1 MHz 静电容量 (C)：50 pF ~ 5 mF 损失因子 (D)：0.0001 ~ 9.9999
06.静电容量 (C)：50 pF ~ 5 mF
损失因子 (D)：0.0001 ~ 9.9999
阻抗 (Z)：10 mΩ ~ 100 mΩ
07.测量仪器：LCR 计 (Keysight Technologies)
08.测量范围：选择AUTO，10Ω，100Ω，300Ω，1kΩ，3kΩ，10kΩ，30 kΩ或100 kΩ
09.直流偏压：±0 ~ ±40V
10.测量间隔：1 min ~ 1500 min（恒定运行期间）
11.温度步骤：从规定40步开始/结束温度的模式中选择 以及输入所需温度的步长间隔和模式
12.频率步长：值50步（设置为所需值）
13.补偿：短时补偿，开放补偿
14.环境试验系统控制：使温度数据采集与测量和的温度控制同步 具有 RS-485 功能的环境测试系统。
15.测量电缆：由聚四氟乙烯制成的同轴电缆 （特性阻抗 (Z)，50Ω，95 pF/m）
16.外部尺寸：530（宽）×1832（高）×800（深）mm（不包括突出部分）
17.设备电源：100 VAC ±10% 1φ 50/60 Hz 15 A
热门标签：华测,HCCT-40H,评估材料绝缘性能和电学特性,电容器温度特性测试系统
