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印制电路板测试用高压离子迁移测试系统
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价格：￥电议
更新日期：2025/2/10 13:48:17
生 产 地：中国大陆
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详细内容
印制电路板测试用高压离子迁移测试系统是面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装，因结露吸湿等因素造成的绝缘不良现象即离子迁移现象日益突出而设计；高压迁移评估系统主要是对印刷电路板或其他绝缘材料间的电路及焊盘，施加长时间的高压，测试其电子瞬间迁移的状况，并记录阻抗变化状况，故称为CAF实验可搭配HAST、高低温试验箱、冷热冲击箱等环境试验箱使用，也称为绝缘阻力电阻试验或为绝缘劣质试验，印刷电路板、焊料、迁移评估等绝缘材料。适用标准:JPCA-ET04、IPC-TM-650 2.6.3FIPC-TM-650 2.6.3.1E、IPC-TM-650 2.6.3.4A、IPC-T650 2.6.3.6.
功能特点描述 |
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图形化UI界面，操作员可以快速上手； 可配和各种环境试验测试样品； 预留各种条件GPIO功能，方便设备间联动，如开关门，温湿度变化等。 |
高精度的模拟测量电路，内部采用24Bit采样AD，16ms的计测速度，可以快速追踪到异常样本，并对样品信息进行反馈处理。 |
|
所有的测量过程均是高速独立完成，即使某通道出现异常，也不会影响到其他通道的计测机制。 |
内部采用双24Bit采样AD，对个别范围的电流进行多次采样求平均，可以剔除部分电源带来的干扰，让数据更准确。 |
内部采用多级电流限制回路设计，即使电子发生异常迁移，也不会对其他通道有影响，更不会出现线路烧毁现象。 |
本设备专为高速测试设计，具备以下优点 |
高速采样能力 |
高速异常反馈控制 |
独立通道采样分析能力 |
高信耐性 |
功能特点描述 |
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图形化UI界面，操作员可以快速上手； 可配和各种环境试验测试样品； 预留各种条件GPIO功能，方便设备间联动，如开关门，温湿度变化等。 |
高精度的模拟测量电路，内部采用24Bit采样AD，16ms的计测速度，可以快速追踪到异常样本，并对样品信息进行反馈处理。 |
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所有的测量过程均是高速独立完成，即使某通道出现异常，也不会影响到其他通道的计测机制。 |
内部采用双24Bit采样AD，对个别范围的电流进行多次采样求平均，可以剔除部分电源带来的干扰，让数据更准确。 |
内部采用多级电流限制回路设计，即使电子发生异常迁移，也不会对其他通道有影响，更不会出现线路烧毁现象。 |
本设备专为高速测试设计，具备以下优点 |
高速采样能力 |
高速异常反馈控制 |
独立通道采样分析能力 |
高信耐性 |
