联系我们
联系人：黎先生
产品展示
硅片表面形貌测量VIT系列
点击次数：176
价格：￥电议
更新日期：2026/9/9 16:20:43
生 产 地：
产品型号：VIT
商家名片
黎**
联系我时，请说明是阿仪网看到的，谢谢!
- 电话: 86*********668
- 手机: 13******493
- 微信:
- 交换名片后展示联系方式 → →
相关标签：硅片表面形貌测量VIT系列
详细内容
硅片表面形貌测量VIT系列
NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, top & bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌测量
Film Stress薄膜应力量测仪
FEOL Electrical Characterization 电学特性
Thin wafer metrology 晶圆测量学
Film Adhesion漆膜附着力测试
NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, top & bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
马上联系我们：，info@boyuesh.com
硅片表面形貌测量VIT系列
