厂家正式授权代理商：岱美有限公司
联系电话：，（贾先生）
联系地址：北京市房山区启航3期5号楼801
公司网址：www.dymek.cn
自动化薄膜厚度绘图系统
依靠F50的光谱测量系统，可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。
系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。
F50
F54
美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上*具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。
关键词：膜厚仪 测厚仪 光学测厚 Filmetrics
公司同类产品
-
涂层厚度测量、薄膜厚度测量、光学参数测量、薄膜表征仪器
FR-pOrtable是一款独特的便携式测量仪器，可对透明和半透明的单层或多层堆叠薄膜进行精确的无损（非接触式）表征。使用FR-pOrtable，用户可以在380-1020nm光谱范围内进行反射率和透 更多详细 -
晶圆涂层测厚、圆晶薄膜厚度测量仪
FR-pRo可由用户按需选择装配模块，核心部件包括光源，光谱仪（适用于200nm-2500nm内的任何光谱系统）和控制单元，电子通讯模块此外，还有各种各种配件。FR-pRo:晶圆涂层测厚、圆晶薄膜厚度 更多详细 -
微米级薄膜表征-厚度，反射率，折射率及消光系数测量仪
利用FR-Mic，通过紫外/可见/近红外可轻易对局部区域薄膜厚度，厚度映射，光学常数，反射率，折射率及消光系数进行测量 更多详细 -
USB 驱动薄膜表征工具、薄膜测厚、光学表征仪器
FR-pOrtable是一款独特的便携式测量仪器，可对透明和半透明的单层或多层堆叠薄膜进行精确的无损（非接触式）表征。使用FR-pOrtable，用户可以在380-1020nm光谱范围内进行反射率和透 更多详细
MSN交谈
