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检测镀层厚度用仪器 (2024/2/27)
简介：检测镀层厚度用仪器硬件配置采用高分辨率的sdd探测器，分辨率高达140ev进口的大功率高压，让ag,sn等镀层的测量能更加稳定。配备微聚焦的x光管，犹如给发动机增加了涡轮增压，让数据的准确性更上层楼。多种准直器可搭配选择：0.1*0.2mm；φ0.15mm;φ0.2mm；φ0.3mm。贴心打造出适合您的那一款。
X荧光镀层检测仪 (2024/2/27)
简介：x荧光镀层检测仪硬件配置采用高分辨率的sdd探测器，分辨率高达140ev进口的大功率高压，让ag,sn等镀层的测量能更加稳定。配备微聚焦的x光管，犹如给发动机增加了涡轮增压，让数据的准确性更上层楼。
铝镀铜测厚仪 (2024/2/27)
简介：铝镀铜测厚仪每次开机后，仪器都必须先预热30分钟，然后进行初始化，方可进行正常的检测工作。测量不同类型的样品时，需从程序栏中选择其对应的选项，才能保证的测量效果。为使仪器能长期保持工作正常，需定期对仪器的各项参数进行测试，并进行调整。
金属镀层厚度测量仪 (2024/2/27)
简介：金属镀层厚度测量仪edx 600 plus是天瑞仪器股份有限公司集多年x荧光测厚仪经验，门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等域。
电镀行业检测仪器 (2024/2/27)
简介：电镀行业检测仪器edx 600 plus是天瑞仪器股份有限公司集多年x荧光测厚仪经验，门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等域。
镀层膜厚检测仪 (2024/2/27)
简介：镀层膜厚检测仪开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和x光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。信号检测电子电路。高低压电源。x光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机
螺母镀层测厚仪 (2024/2/27)
简介：次可同时分析多24个元素，五层镀层。分析含量般为2ppm到99.9%。螺母镀层测厚仪镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。
镀层膜厚分析仪 (2024/2/27)
简介：产品功能镀层膜厚分析仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度
开关镀层测厚仪 (2024/2/27)
简介：开关镀层测厚仪表明，使用thick800a xrf锡层电镀层测厚仪对镀件膜厚测试，准确度高，速度快（几十），其测试效果完可以和显微镜测试法媲美。
铜上镀镍测厚仪 (2024/2/27)
简介：镀层厚度：般在50μm以内（每种材料有所不同）铜上镀镍测厚仪sdd探测器：分辨率低至135ev的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm样品观察：配备景和局部两个工业高清摄像头准直器：0.3×0.05mm、ф0.1mm、ф0.2mm
锌铬金银测厚仪 (2024/2/27)
简介：金属镀层测厚仪通过复杂的数学运算，计算出每中元素之间的相互影响系数，对测试结果进行修正，能有效提高测试的度。该软件不但能计算出合金镀层的厚度，可同时分析出该合金镀层中各种元素的含量，实现厚度含量步到位。
镀铜镍测厚仪 (2024/2/27)
简介：型号：thick 800a镀铜镍测厚仪元素分析范围从硫(s)到铀（u）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层测厚检测仪 (2024/2/27)
简介：黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。镀层测厚检测仪主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业
铜基镀镍测厚仪 (2024/2/27)
简介：铜基镀镍测厚仪应用域黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业
智能型镀层膜厚测试仪 (2024/2/27)
简介：智能型镀层膜厚测试仪任意多个可选择的分析和识别模型。相互立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220v±5v, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(w)×495(d)×545(h) mm样品室尺寸：500(w)×350(d)×140(h) mm重量：90kg
半导体镀膜膜厚测量仪 (2024/2/27)
简介：应用优势半导体镀膜膜厚测量仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；软件可分析5层25种元素镀层；通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；配置高分辨率si-pin半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；
X-Ray膜厚测试仪 (2024/2/27)
简介：x-ray膜厚测试仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；软件可分析5层25种元素镀层；通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；配置高分辨率si-pin半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
pcb板厚测量仪 (2024/2/27)
简介：pcb板厚测量仪分析元素范围：从硫（s）到铀（u） 同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀铜镍金线路板膜厚测试仪 (2024/2/27)
简介：镀铜镍金线路板膜厚测试仪精密的三维移动平台卓越的样品观测系统先进的图像识别 轻松实现深槽样品的检测四种微孔聚焦准直器，自动切换
金涂层测厚仪 (2024/2/27)
简介：金涂层测厚仪开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和x光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。信号检测电子电路。
金层膜厚仪 (2024/2/27)
简介：金层膜厚仪型号：thick 800a元素分析范围从硫(s)到铀（u）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
PCB镍厚测试仪 (2024/2/27)
简介：pcb镍厚测试仪开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和x光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。
X-RAY化金厚度检测仪 (2024/2/27)
简介：φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mmx-ray化金厚度检测仪采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加精准
x射线金厚测试仪 (2024/2/27)
简介：双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。x射线金厚测试仪信号检测电子电路。高低压电源。x光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机
金镍厚度测试仪 (2024/2/27)
简介：金镍厚度测试仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
金厚测试仪 (2024/2/27)
简介：性能特点金厚测试仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
金厚测量光谱仪 (2024/2/27)
简介：金厚测量光谱仪开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和x光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。si-pin探测器。信号检测电子电路。
手持式合金分析光谱仪 (2024/2/27)
简介：手持式合金分析光谱仪处理器和内存：cpu：667mhz,内存：256m，扩展存储支持32g，标配2g，可以海量存储数据。含量范围：ppm～检测时间：3-30分析方法：能量色散x荧光分析方法测量元素范围：镁（mg）到铀（u）之间的元素均可测量
便携式手持式光谱仪 (2024/2/27)
简介：便携式手持式光谱仪-强大的电池功能以及模块化设计适合各种复杂环境的检测需要。-外观紧凑，功能强大-既可进行精度可媲美实验室光谱仪的定量分析，也可进行快速材料分拣-***的喷射电技术，适应各种形状的样品分析
合金分析手持光谱仪 (2024/2/27)
简介：合金分析手持光谱仪应用于冶金、铸造、机械、金属加工、汽车制造、有色、航空航天、、化工等域的生产过程控制，中心实验室成品检验等，可用于fe、al、cu、ni、co、mg、ti、zn、pb等多种金属及其合金样品分析。可对片状、块状以及棒状的固体样品中的非金属元素（c、p、s、b等）以及金属元素进行准确定量分析。
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