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半导体镀膜膜厚测量仪 (2024/2/27)
简介：应用优势半导体镀膜膜厚测量仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；软件可分析5层25种元素镀层；通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；配置高分辨率si-pin半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；
X-Ray膜厚测试仪 (2024/2/27)
简介：x-ray膜厚测试仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；软件可分析5层25种元素镀层；通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；配置高分辨率si-pin半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
pcb板厚测量仪 (2024/2/27)
简介：pcb板厚测量仪分析元素范围：从硫（s）到铀（u） 同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀铜镍金线路板膜厚测试仪 (2024/2/27)
简介：镀铜镍金线路板膜厚测试仪精密的三维移动平台卓越的样品观测系统的图像识别 轻松实现深槽样品的检测四种微孔聚焦准直器，自动切换
金涂层测厚仪 (2024/2/27)
简介：金涂层测厚仪开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和x光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。信号检测电子电路。
金层膜厚仪 (2024/2/27)
简介：金层膜厚仪型号：thick 800a元素分析范围从硫(s)到铀（u）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
PCB镍厚测试仪 (2024/2/27)
简介：pcb镍厚测试仪开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和x光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。
X-RAY化金厚度检测仪 (2024/2/27)
简介：φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mmx-ray化金厚度检测仪采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加精准
x射线金厚测试仪 (2024/2/27)
简介：双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。x射线金厚测试仪信号检测电子电路。高低压电源。x光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机
金镍厚度测试仪 (2024/2/27)
简介：金镍厚度测试仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
金厚测试仪 (2024/2/27)
简介：性能特点金厚测试仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
金厚测量光谱仪 (2024/2/27)
简介：金厚测量光谱仪开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和x光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。si-pin探测器。信号检测电子电路。
手持式合金分析光谱仪 (2024/2/27)
简介：手持式合金分析光谱仪处理器和内存：cpu：667mhz,内存：256m，扩展存储支持32g，标配2g，可以海量存储数据。含量范围：ppm～检测时间：3-30分析方法：能量色散x荧光分析方法测量元素范围：镁（mg）到铀（u）之间的元素均可测量
便携式手持式光谱仪 (2024/2/27)
简介：便携式手持式光谱仪-强大的电池功能以及模块化设计适合各种复杂环境的检测需要。-外观紧凑，功能强大-既可进行精度可媲美实验室光谱仪的定量分析，也可进行快速材料分拣-***的喷射电技术，适应各种形状的样品分析
合金分析手持光谱仪 (2024/2/27)
简介：合金分析手持光谱仪应用于冶金、铸造、机械、金属加工、汽车制造、有色、航空航天、、化工等域的生产过程控制，中心实验室成品检验等，可用于fe、al、cu、ni、co、mg、ti、zn、pb等多种金属及其合金样品分析。可对片状、块状以及棒状的固体样品中的非金属元素（c、p、s、b等）以及金属元素进行准确定量分析。
天瑞ROHS2.0仪器 ROHS10项检测仪物质检测仪 ROHS分析仪 (2024/2/27)
简介：rohs10项检测仪软件介绍支持windows操作系统，中文版软件（可安装英文 软件）件设置）具有技术管理权限密码功能，可以更好的保护测试数 据不被随意更改软件具有定性分析，自动元素识别功能，方便对样品 元素的识别和定性，并可以打印具有谱图的定性分析 报告可以由软件自动控制切换准直器和滤光片，减少因人 为更换错误准直器，而造成测量的误差
RoHS2.0十项检测仪器设备 新增四项邻苯二甲酸酯测试热裂解色谱仪 (2024/2/27)
简介：rohs2.0十项检测仪器设备高性能第四代全自动气相色谱仪，具有epc柱压力控制和efc柱流量控制；样品分析时间短，满足快速筛查的需求；裂解室升温速度，保定性分析和定量分析的重复性和重现性；采用高清7寸触摸液晶屏，直观的人机互动界面，提升用户体验。
xrf x射线荧光光谱仪 (2024/2/27)
简介：xrf x射线荧光光谱仪自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序整体钢架结构，力度**的保
XRF荧光光谱分析检测仪 (2024/2/27)
简介：自动稳谱装置*了仪器工作的一致性xrf荧光光谱分析检测仪针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头
X射线荧光光谱元素定量分析仪 (2024/2/27)
简介：x射线荧光光谱元素定量分析仪同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：30-200探测器能量分辨率为：145±5ev管压：5kv-50kv管流：50μa-1000μa
能量色散X射线荧光(EDXRF)光谱仪 (2024/2/27)
简介：能量色散x射线荧光(edxrf)光谱仪同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：30-200探测器能量分辨率为：145±5ev管压：5kv-50kv管流：50μa-1000μa
XRF台式光谱仪 (2024/2/27)
简介：xrf台式光谱仪低能x射线激发待测元素，对si、p等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置*了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元
氯溴铅元素含量光谱分析仪 (2024/2/27)
简介：数字多道技术，让测试，计数率达到100000cps，准度*高。在合金检测中效果*好氯溴铅元素含量光谱分析仪sdd硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、效应得到明显的抑制
XRF无损光谱检测仪 (2024/2/27)
简介：xrf无损光谱检测仪产品说明、技术参数及配置xrf无损光谱检测仪主要特征是利⽤智能真空系统，可对na、mg、ai、si、p、s、ci等轻元素具有良好的激发效果，利⽤xrf技术可对⾼含量的k、ca、ti、v、cr、m
XRF光谱分析仪 (2024/2/27)
简介：xrf光谱分析仪应用域产品⼴泛应⽤于矿⼭、环保、冶⾦、有⾊、钢铁、地质、煤炭、玻璃、⽯油、化⼯、耐⽕材料、机械加⼯、能源焦化等⾏业。
XRF荧光光谱分析仪器 (2024/2/27)
简介：xrf荧光光谱分析仪器产品说明、技术参数及配置该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对si、p、s、al、mg等轻元素具有良好的激发效果，利用xrf技术可对高含量的cr、ni、mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效
X射线荧光光谱分析XRF检测仪 (2024/2/27)
简介：x射线荧光光谱分析xrf检测仪产品说明、技术参数及配置该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对si、p、s、al、mg等轻元素具有良好的激发效果，利用xrf技术可对高含量的cr、ni、mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
X射线荧光光谱仪(XRF) (2024/2/27)
简介：x射线荧光光谱仪(xrf)针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
X射线荧光光谱仪国产天瑞原厂 (2024/2/27)
简介：x射线荧光光谱仪国产数字多道技术，让测试，计数率达到100000cps，准度*高。在合金检测中效果*好sdd硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能x射线激发待测元素，对si、p等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
手持式XRF荧光光谱仪 (2024/2/27)
简介：手持合金钢xrf检测光谱仪更便捷的操作1、重量轻，体积小，人体工程学把手设计，配有用仪器套，更易抓握，野外使用更方便。2、270 °可旋转5寸高清屏，支持多点操控，任何光线下都能清晰显示。3、密封式一体设计，具备防水防尘功能，可在恶劣环境下连续使用。4、无需制备样品，可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试，也能使用测试座对样品进行较长时间的精细测试。
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