静态比表面及微孔测定仪 (2016/4/19)

简介：jw-bk122型静态比表面及微孔测定仪，jw发明专利，完全继承jw系列孔径分析仪所有技术特点，自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌，配备有“二级吸附泵技术”及小量程压力传感器，配合微孔分析模型的准确应用，完全实现了微孔的精确分析，测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同类仪器水平，性价比极高，非常适合各大企事业单位纳米粉体材料微孔、介孔、大孔的研发及生产检测。

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