精微高博比表面仪 (2016/4/1)

简介：jw-da型精微高博比表面仪，采用流动色谱法氮吸附原理，全自动智能化测试，速度快、效率高，性价比极高，非常适合各企事业单位粉体材料bet比表面的快速检测，尤其是电池正极材料（钴酸锂、锰酸锂、磷酸铁锂、三元材料等）的bet比表面检测。

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多站高性能比表面及孔径分析仪 (2016/4/1)

简介：jw-bk300系列多站高性能比表面及孔径分析仪，在jw系列孔径分析仪的基础上，自主研发的新一代高端微孔分析仪。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌，配备有“涡轮分子泵”和1000torr、10torr、1torr等不同量程的压力传感器，通过全模块化设计，配合微孔分析模型的准确应用，真正实现了微孔的精确分析，最小孔径可测达0.35nm，测试结果准确性、精确性、稳定性达到进口同类仪器水平。

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钴酸锂比表面积分析仪 (2016/4/1)

简介：jw-dx型钴酸锂比表面积分析仪，jw发明专利，创新的结构，每个样品单独吸附，互不干扰，吸附峰尖锐，灵敏度大大提高，通过吸附峰直接对比得到比表面，测试准确、稳定，比表面下限降低一个数量级，非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。（发明专利号201410320453.2）

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