设备能够完成下述实验内容：

光电传感器件原理与特性的实验

1、光源发光光谱特性实验；

2、光度辐射度参数测量的实验；

3、光敏电阻特性参数及其测量；

4、光敏电阻伏安特性实验；

5、光敏电阻的变换电路；

6、光敏电阻时间响应特性；

7、光电二管光照灵敏度的测量；

8、光电二管伏安特性的测量；

9、光电二管时间响应特性的测量；

10、硅光电池在不同偏置状态下的特性参数及其测量；

11、测量硅光电池在反向偏置下的时间响应；

12、光电三管光照灵敏度的测量；

13、光电三管伏安特性的测量；

14、光电三管时间响应的测量；

15、光电三管光谱特性的测量；

16、光电耦合器电流传输比的测量；

17、光电耦合器件伏安特性的测量；

18、光电耦合器件时间相应的测量；

19、热释电器件基本原理实验；

20、热释电器件光谱响应的测试实验；

21、PSD位移传感器特性参数的测量；

22、雪崩光电二管（APD）特性实验；

23、PIN光电二管特性实验；

24、四象限光电传感特性实验；

25、光电倍增管阳暗电流Id的测量；

26、光电倍增管的灵敏度Sa与电源电压Ubb的关系；

27、光电倍增管的电流增益G的测量；

光电检测技术实验

1、线阵CCD原理与驱动实验；

2、线阵CCD尺寸测量实验；

3、线阵CCD角度测量实验；

4、利用线阵CCD识别条形码；

5、利用线阵CCD测量物体位置和振动；

6、利用线阵CCD进行物体扫描；

7、光栅与莫尔条纹实验；

8、利用夫琅和费衍射进行的测量；

9、面阵CCD原理与驱动实验；

10、利用面阵CCD测量物体外形尺寸；

11、利用面阵CCD提取物体的边缘与轮廓；

12、利用面阵CCD进行图像采集与参数设置；

13、利用面阵CCD进行投影与差影图像分析；

14、利用面阵CCD进行图像的滤波与增强；

15、利用面阵CCD进行形态学处理；

16、利用面阵CCD进行物体的旋转与缩放；

17、利用面阵CCD对颜色识别；

18、利用面阵CCD进行图像信息的点运算；

19、利用面阵CCD进行图像的几何变换；

20、利用面阵CCD进行数据采集实验；

现代光学实验

1、用远心照明光源测量薄凸透镜的焦距；

2、位移法测量薄凸透镜的焦距；

3、组装显微镜系统；

4、组装透射式幻灯机；

5、双缝干涉原理与现象；

6、夫琅和费单缝衍射原理与现象；

7、夫琅和费圆孔衍射原理与现象；

8、菲涅耳直边衍射实验

9、光的偏振实验；

二次开发实验

CPLD应用技术方面的实验

1、编写与设计时钟逻辑电路实验；

2、编写与设计2160像元的线阵CCD驱动电路实验；

3、编写与设计线阵CCD二值化数据采集系统逻辑电路；

4、编写与设计流水线上测量通过某一工位工件数量的系统；