本次测试采用快速温变试验箱开展，全程控制温变速率，模拟极限温差冲击环境。测试温度区间设定为-40℃～+85℃，覆盖车载及储能设备全工况温度范围，温变速率控制在10℃/min，满足快速温变冲击测试要求。单组温变循环流程：先将样品置于-40℃低温环境恒温30min，保证芯片整体温度均匀稳定，随后以10℃/min速率升温至85℃，高温恒温30min，再同等速率降温至低温区间，单次循环时长90min，连续开展50次循环测试。

测试全程实时监测芯片工作状态，每10次循环后暂停试验，检测芯片电池电压采样、均衡控制、CAN通讯、故障保护等核心功能，记录参数偏差值。测试结束后，将样品恢复至常温环境静置2h，再次全面校验电气性能及功能完整性。测试判定标准为：芯片无功能失效、无通讯中断，采样精度误差≤1%，保护功能响应正常，无烧损、漏电等异常，即为测试合格。若出现参数漂移超标、功能失效、保护失灵等问题，判定为样品可靠性不达标。