飞针测试仪

简介：主要应用于半导体和电子线路的在线测试、100%短路测试、节点阻抗测试3.0、引脚开路扫描、3D激光测试、LED颜色和强度测试、上电和功能测试、4核并行在线编程、高分辨率光学测试、边界扫描、内置自测试（BIST）、HV测试。

主要特点

双面探测：接触&并行测试

测试电路板最大尺寸：1000 x 610mm (39.4×24’’)

测试电路板最大重量20kg

测试范围全覆盖

内置/自动/手动加载测试电路板

Micro-SMD & 灵活的电路板探测

完全可测以及并行测试

双面植针。顶部4个底部2 个可移动测试头使得4060 S2 能够在双面同时植针，增加产出以及测试能力.

底部多针飞针头。除了为电路测试的导电探针，两个底部多针飞针头可以带动高速上电探针，支撑杆，高分辨率相机，多探针，激光/LED探针以及Electro scan 探针，涵盖了最的测试需要，动态的平面支撑使得薄板测试更加稳定，避免了电路板因为行程引起的震动。

多模式植针。当顶部的4 针用于电路板顶部测试时，底部可升降平台用于针床治具，多个大电流源，数字I/O，高速信号，平面支撑。

技术参数：

应用：适用于中等至大宗生产

测试效率：非常高的测试量

底盘： 结构钢

UUT探测：双面 + 单面 合并的

多探测点飞针测头 ：6个（顶部4个+底部2个）

最大电路板尺寸（长x宽）：手动: 686 x 610mm (27 x 24’’)

在线: 1000 x 610mm (39.4 x 24’’)*

占地面积（长x宽）：1750 x 1272mm (2.2m2)