X 荧光膜厚测试仪 小型化一体机 Thick200

下照式X荧光膜厚分析仪，无需样品前处理，测量方便快捷，对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的厚度、成分以及电镀液金属离子浓度进行准确测量，帮助企业准确核算成本及质量管 kong。

X 荧光膜厚测试仪 小型化一体机 Thick200设计理念：

采用紧凑型设计：X射线发生器和接收器都集成在仪器下部舱室中，样品底部即实际被测量面；配置手动XY轴工作台：用于细小样品的准确定 wei ；一体机设计：仪器集成电脑、显示器、打印机于一体；配置可触摸屏：直观的图形化操作界面，简单易用，操作人员经过短期培训即可上手；配置大容量存储：可保存大量 jian 测数据、谱图和样品照片，方便进行质量追溯。

X 荧光膜厚测试仪 小型化一体机 Thick200性能特点：

■新的小型高集成一体机；

■仪器小巧轻便，可车载， geng 适用于生产线检测产品；

■检测结果即时可见：生产现场或来料检验时可立即判断产品是否合格，并出具报告；

■采用 xian 进的配置和算法，确保测量结果的高 jing 度和良好的重复性， man 足严格的质 kong 要求；

■不仅能测量镀层厚度，还能对涂镀层元素进行定性或半定量分析，有助于 jian 别镀层类型和 jian 控杂质。

技术参数

仪器重量：33kg

外形尺寸(W×D×H):390mm×460mm×325mm

样品仓尺寸(W×D×H):300mm×400mm×110mm

X/Y移动平台：50mm×50mm

仪器配置：

接收器可选配：正比计数器、 jin 口Si-PIN探测器、jin 口SDD探测器

准直器可选配：固定单准直器和滤光片、可自动切换的多准直器和滤光片