X荧光镀层测厚仪又名膜厚仪，涂镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，镀层厚度测量仪，X荧光镀层测厚仪，X射线荧光镀层测厚仪，镀金镀层测厚仪，镀银层测厚仪，铜镀银厚度测量仪，镀镍镀银镀锌测厚仪，天瑞仪器x射线测厚仪，国产镀层测厚仪，Thick800A镀层测厚仪，x-ray镀层测厚仪，x-ray涂镀层厚度分析仪。金属镀层x射线荧光是利用x射线照射样品激发元素荧光的方式，检测荧光值的强度来确定待测厚度的分析仪器。

PCB镀层厚度分析仪Thick800A是天瑞集多年的经验，门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

江苏天瑞仪器股份有限公司是x射线测厚仪Thick800A的生产厂家，是一家以X射线荧光光谱仪的研发生产为主，兼营光谱，色谱，质谱三类分析仪的综合性检测仪器上市公司，股票代码300165！

X射线测厚仪THick800A实体照

性能特点

PCB镀层厚度分析仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A
PCB镀层厚度分析仪元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

标准配置

PCB镀层厚度分析仪开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用域

黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46168万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。