IC卡动态弯曲双向扭试验机用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡等卡的弯曲和扭曲性能测试。模拟IC卡（如、交通卡）在‌反复弯折‌场景下的耐久性，检测芯片、卡基材料及焊点的疲劳寿命。

IC卡动态弯曲双向扭试验机技术参数：

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，总扭曲角度30°

长边最大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

长边最小位移量为2mm±0.50mm，

短边最大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

长边最小位移量为1mm±0.50mm，

夹具安装尺寸完全按照国家标准执行。

长边弯曲工位数：5工位

短边弯曲工位数：5工位

双向扭转工位数：5工位

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

仪器加罩前的尺寸是：

长：74.5cm，宽：38cm 高：30cm

自主设计完全按标准执行双向扭转测试。