许多ROHS仪器用户大概都不太清楚这款仪器是基于怎样的应用原理来完成作业的，这就是今天我们要在这里为大家介绍的XRF-X射线荧光光谱仪的优缺点。X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。
X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。
然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量，在有关X射线荧光光谱仪技术原理我们有更多的关于X射线荧光光谱仪是如何完成ROHS管控元素的分析工作的相关介绍。
下面让我们来了解一下XRF-X射线荧光光谱仪的优缺点都有哪些？
XRF-X射线荧光光谱仪的优点主要有六个组成部分，他们分别是：
1.分析速度高
测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，60～200分钟就可以测完样品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待测元素。
2.X射线荧光光谱跟样品化学结合状态无关
X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显着。波长变化用于化学位的测定。
3.化学状态的改变
非破坏分析在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
4.物理分析法
X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
5.分析精密度高。
制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
而XRF-X射线荧光光谱仪的缺点却只有三项，他们分别是：
1.难于作绝对分析，故定量分析需要标样。
2.对轻元素的灵敏度要低一些。
3.容易受相互元素干扰和叠加影响。
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