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台式XRF镀层分析仪的产品亮点阐述

提供者:日立分析仪器(上海)有限公司   发布时间:2024/12/16 9:23:46  阅读次数:76次  进入该公司店铺

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杨**
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FT230台式XRF分析仪的设计减少了进行测量的时间。日立工程师意识到样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间,因此推出了一个有着**性的分析仪,其可以有效地 “设置 “自己,使得在过程中可以分析更多的零件。
自动化和创新软件是FT230分析仪的特点。智能识别模块,如Find My Part™(查找我的样品),意味着操作者只需装载样品,确认零件,FT230就会处理其余的事.
FT230的每一个部分都是为了大幅减少分析时间而设计的。
1.自动聚焦减少样品装载时间
2.Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序
3.屏幕大部分区域用来显示样品视图,提供了不俗的可视度
4.自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性
5.与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据
6.由于采用了新的用户界面,非专业人员也能直观、方便地使用
7.功能好,可同时测量四层镀层也可分析基质
8.帮助您满足ENIG(IPC-4552B)、ENEPIG(IPC-4556)、浸没锡(IPC-4554)和浸没银(IPC-4553A)的规格要求
9.经久耐用,在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长
10.符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准。

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