1、双镜头斜入射光学系统提高了粒度测试的精度

Bettersize3000采用双镜头斜入射的精密光学系统，探测角度达0.02-165°，测量范围达到0.01-3500μm，无论是毫米级颗粒，微米级颗粒，还是纳米级颗粒，系统都能地捕捉，从原理上充分保障了测量精度和更高的性能。目前国外激光粒度仪普遍采用双光源光学系统来增大探测角度，提升测试范围，包括同轴双光束系统和异轴双光束系统。

与双光束系统相比，百特双镜头斜入射光学系统有明显优势，一是可靠性高。因为双镜头增加的是一个无源器件——镜头，双光束增加的是一个有源器件——激光器，无源器件的寿命和可靠性远远高于有源器件。二是基准。百特光学系统是单一偏振光光源，各个探测器上接收的散射光强基准都是源于这个光源，具有的基准。而双光束系统是两个光源，各个探测器上接受到的散射光强基准有两个，会造成测量误差。第三，信号连续。双镜头系统在所有探测器上的信号是连续采集、没有间断的。而双光源系统，两个光源轮流工作，每个光源对应一组散射信号，反演计算时需要将这两组信号进行拟合，造成数据的不连续、不完整，对测量结果有很大影响。第四，样品折射率测量功能。样品的折射率是激光粒度分析的重要参数，并且它与波长有关。Bettersize3000能得到任何样品的折射率，从而保证对未知折射率（包括实部和虚部）的样品能准确测量其粒度分布。而多光束系统采用不同波长的光源，照理应有多个的折射率，而实际上是用一个折射率，将直接影响细颗粒的粒度测试准确性。

2、Bettersize3000动态粒形分析-粒度和粒形二合一

除具有*的粒度测试性能外，Bettersize3000Plus还有动态粒形分析功能，成为粒度和粒形二合一分析系统。动态粒形分析系统包括显微镜、高速摄像机和高速图像处理软件三部分组成，分析的粒形参数包括颗粒的圆形度、长径比、径厚比、大粒径等。同时，就粒度测试而言，可视化的颗粒图像成为激光粒度仪上的一个明亮的“眼睛”，与激光法粒度数据相互认证，使粒度测试更具有真实性。

Bettersize3000是百特粒度粒形分析技术达到的新高度，它所集成的双镜头技术、折射率测量技术、激光散射/显微图像二合一技术、一键操作技术等粒度粒形分析技术，代表着粒度粒形分析技术发展的新成果。