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离心浇铸制样X射线荧光光谱分析铬铁中的Cr

提供者:长春迈维仪器设备有限公司   发布时间:2007/1/30 15:51:59  阅读次数:1795次  进入该公司店铺

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本文介绍采用离心浇铸制样X荧光光谱分析铬铁中Cr、Si、P,离心浇铸制样能克服铁合金存在的矿物效应和颗粒效应,该方法简单、快速、精度高、准确。当浓度为Cr:66.04%、Si:0.64%、P:0.016%其相对标准偏差分别为0.18%、3.12%、6.25%。

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