HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。

　　借助于成熟的FluoroLog?技术，Nanolog?采用模块化设计，即可实现稳态测量，也可实现瞬态测量（TCSPC技术），系统搭配成像光谱仪，可实现红外三维荧光快速测量。

　　NanoLog 系列仪器专门用于纳米技术和纳米材料的前沿研究，NanoLog ?可以检测到800-1700nm的近红外范围，可选~2μm的多通道检测器和~3μm的单通道检测器，同时也可实现紫外-可见区荧光光谱测量。专为单壁碳纳米管（SWNTs）设计的NanoSizer?软件，可计算荧光共振能量传递(FRET)和碳管内径分布，并且在微秒时间内就能获得完整的二维光谱图，1秒内获得的激发-发射三维荧光光谱图。

近红外荧光光谱仪技术参数

· 450W的大功率连续氙灯，涵盖UV~NIR波长范围

· 快速获得全波长范围激发-发射三维荧光图

· Symphony II InGaAs阵列检测器：800~1700nm；规格可选：256×1，512×1和1024×1，单像元25?m；噪音水平：650e-rms （液氮制冷）；可选电制冷；扩展范围可选（1.1-2.2?m）

· iHR320发射光谱仪：焦长=320mm；f/4.1；线色散=2.64nm/mm；分辨率=0.06nm；全软件控制三光栅塔轮（所有测定在光栅刻线数1200gr/mm条件下）

· 固态近红外检测器，光电倍增管覆盖UV~NIR全光谱范围寿命测定，采用时间相关单光子计数技术测定荧光寿命范围：100ps~1ms（UV~NIR）；磷光寿命范围1us~>10s（UV~NIR）

近红外荧光光谱仪主要特点

· 一秒内获得激发-发射三维光谱

· 高灵敏度的近红外InGaAs阵列检测器

· 高光谱分辨率

· 易于实现SWNTs的定性和定量分析

· 可选多种检测器适于紫外至近红外光谱范围的检测需求：

- PMT用于高灵敏度和时间分辨的测量

- InGaAs阵列检测器用于NIR数据的快速采集

- CCD阵列检测器用于UV-Vis数据的快速采集

· 同时解析量子点

· 易于实现能量转移研究

· 模块设计以满足不同实验的需求