3H-2000PS2型比表面及孔径分析仪
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3H-2000PS2型比表面及孔径分析仪，具有2个样品预处理脱气站，2个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1%。测试范围：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等可装入样品管的材料。国内知名品牌，远销海外，获得多项国内技术专利,技术国际领先。

◆ 2个样品预处理脱气站，2个样品分析站；

◆ 全程自动化智能化运行，无需人工值守，亲和的真人语音操作提示；

◆ BEST多路歧管模块，英福康检漏仪出厂检测，保证仪器真空度和稳定性；

◆ 预处理：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；

(专利名称：静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置 专利号：ZL2011201369439)；

◆ 非阻隔式防污染装置，彻底解决样品污染系统，影响仪器稳定性的问题；

(专利名称:具有除尘防污染装置的静态容量法比表面及孔径分析仪.专利号：ZL201320045881.X)

◆ 独立的高精度饱和蒸汽压（P0）实时测试站；

(专利名称：静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸汽压测试装置.专利号：ZL201120136959.X)

◆ 智能投气量控制，提高实验效率；

◆ 脱气处理：2.4.8个预处理站可选，采用全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停、程序升温、定时结束，可实现无人值守测试和样品脱气处理。

◆ 智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气；

◆ 自动加盖：杜瓦杯自动加盖。在测试过程中，杜瓦杯会有两次升降动作，自动加盖可免去人为守候，降低人工工作量，减小未加盖温区体积测试误差；

(专利名称：加盖装置及静态法比表面及孔径分析仪.专利号：ZL201420148358.40)

◆ 详尽的仪器运行日志显示与记录，可精确到秒，全程实验记录可追溯；

◆ 超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行；

◆ 液氮杯防意外"安全下降"智能控制机制,完全避免液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险；

◆ 大容量小口径杜瓦瓶保温时长大于140小时，连续测试96小时无需添加液氮；

◆ 多项专利技术保障仪器稳定性和准确性；

◆ 吸附、脱附等温线；

◆ BET单点法，多点法比表面；

◆ 朗格缪尔（Langmuir）比表面；

◆ 统计吸附层厚度法外比表面（STSA）；

◆ 粒度估算报告和真密度；

◆ BJH法吸脱附孔容孔径分布；

◆ MK-plate法（平行板模型）孔容孔径分布；

◆ t-plot法微孔分析；

◆ MP法(Brunauer) 微孔分析；

◆ D-R法微孔分析；

◆ HK法微孔分析；

3H-2000PS2型比表面及孔径分析仪产品相册：