理想的薄膜厚度是指基片表面和薄膜表面之间的距离。由于薄膜仅在厚度方向是微观的，其他的两维方向具有宏观大小。所以，表示薄膜的形状，一定要用宏观方法，即采用长、宽、厚的方法。因此，膜厚既是一个宏观概念，又是微观上的实体线度。

由于实际上存在的表面是不平整和连续的，而且薄膜内部还可能存在着针孔、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等，所以，要严格地定义和精确测量薄膜的厚度实际上是比较困难的。膜厚的定义应根据测量的方法和目的来决定。

经典模型认为物质的表面并不是一个抽象的几何概念，而是由刚性球的原子（分子）紧密排列而成，是实际存在的一个物理概念。

形状膜厚：dT是最接近于直观形式的膜厚，通常以um为单位。dT只与表面原子（分子）有关，并且包含着薄膜内部结构的影响；

质量膜厚：dM反映了薄膜中包含物质的多少，通常以μg/cm2为单位，它消除了薄膜内部结构的影响（如缺陷、针孔、变形等）；

物性膜厚：dP在实际使用上较有用，而且比较容易测量，它与薄膜内部结构和外部结构无直接关系，主要取决于薄膜的性质（如电阻率、透射率等）。

膜厚的测量方法：

• Thick 800A 镀层测厚仪是天瑞仪器专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

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• 产品特点：

• 1) 整体结构化设计，仪器美观大方。

  2) 采用美国最新型的SDD探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。

  3) 采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。

  4) 一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。

  5) 多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品最高级。

• 技术参数

1. 元素分析范围从硫(S)到铀(U)；

2. 元素含量分析范围为1PPm到99.99%；

3. 测量时间：30-60秒(可调)；

4. 同时分析镀层层数：最多可达5层

5. 镀层检测厚度：0.005-50μm(视材料类型而有所不同)

6. 能量分辨率为129±5e电子伏特；

7. 温度适应范围为15℃至30℃；

应用领域

1、 镀层分析领域 2、合金分析领域

镀层厚度分析 铜合金成分分析

镀层成分检测 不锈钢成分分析

镀层环保检测 铝合金成分分析

江苏天瑞仪器股份有限公司是最大的镀层测厚仪生产企业， 产品打破了国外垄断局面，性价比最高，在行业内销量领先，分析仪器上市公司。公司专业生产镀层测厚仪，气相色谱质谱仪（GCMS）,五金镀层测厚仪，x射线测厚仪，ROHS检测仪，手持式ROHS光谱仪，手持式合金分析仪，ROHS检测设备，电镀层测厚仪，五金镀层测量仪，天瑞ROHS仪，X射线镀层测厚仪。天瑞仪器成立于1992 年，以研究、生产、销售XRF荧光光谱仪起步，目前从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的高端分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务，是国内首家上市的分析仪器企业。

江苏天瑞仪器股份有限公司镀层测厚仪展厅

联系人：刘经理

网站网址：www.skyray-instrument.com.cn

工厂地址：江苏省昆山市中华园西路1888号